[发明专利]硅基高速双载波双偏振调制器集成芯片有效

专利信息
申请号: 201611088806.6 申请日: 2016-11-30
公开(公告)号: CN106788765B 公开(公告)日: 2019-05-14
发明(设计)人: 李明;唐健;刘宇;袁海庆;祝宁华 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H04B10/516 分类号: H04B10/516;H04B10/54
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 高速 载波 偏振 调制器 集成 芯片
【权利要求书】:

1.一种硅基高速双载波双偏振调制器集成芯片,其特征在于,包括第一单模垂直耦合光栅(1a)、第一调制模块(1)、第二单模垂直耦合光栅(1b)、第二调制模块(2)、2×1多模干涉耦合器(7)和双模垂直耦合光栅(8),其中:

第一单模垂直耦合光栅(1a)接收外部输入的激光光束a,将激光光束a耦合入第一调制模块(1),第一调制模块(1)对激光光束a进行移相、强度调制和模式转换处理后输出给2×1多模干涉耦合器(7);

第二单模垂直耦合光栅(1b)接收外部输入的激光光束b,将激光光束b耦合入第二调制模块(2),第二调制模块(2)对激光光束b进行移相、强度调制和模式转换处理后输出给2×1多模干涉耦合器(7);

其中激光光束a与激光光束b是两束波长不同的激光;

2×1多模干涉耦合器(7)将接收的两束激光耦合为一束激光,然后送入双模垂直耦合光栅(8),双模垂直耦合光栅(8)将不同模式的光同时耦合入多模光纤。

2.根据权利要求1所述的硅基高速双载波双偏振调制器集成芯片,其特征在于,所述第一调制模块(1)和所述第二调制模块(2),器件组成结构及连接关系相同,每个调制模块均包括1个1×4多模干涉耦合器,2个电光移相器,4个马赫曾德调制器,2个2×1多模干涉耦合器,以及1个模式转换耦合器;调制模块中各器件之间通过硅基横电模波导连接,其中传输横电模(TE0)。

3.根据权利要求2所述的硅基高速双载波双偏振调制器集成芯片,其特征在于,所述第一调制模块(1)包括第一1×4多模干涉耦合器(2a)、第一电光移相器(3a)、第二电光移相器(3b)、第一马赫曾德尔调制器(4a)、第二马赫曾德尔调制器(4b)、第三马赫曾德尔调制器(4c)、第四马赫曾德尔调制器(4d)、第一2×1多模干涉耦合器(5a)、第二2×1多模干涉耦合器(5b)和第一模式转换耦合器(6a),其中:

第一1×4多模干涉耦合器(2a)接收第一单模垂直耦合光栅(1a)输出的激光光束a,第一1×4多模干涉耦合器(2a)将一个波导中的光平分到四个波导,则一束激光光束分为四束激光光束;

四束激光光束中的第一束激光,进入第一马赫曾德尔调制器(4a),第一马赫曾德尔调制器(4a)将电学数字信号调制到光学载波上,进入第一2×1多模干涉耦合器(5a);

四束激光光束中的第二束激光经第一电光移相器(3a)进行移相后进入第二马赫曾德尔调制器(4b),第二马赫曾德尔调制器(4b)将电学数字信号调制到光学载波上,进入第一2×1多模干涉耦合器(5a);

第一2×1多模干涉耦合器(5a)将两个波导中的两束激光耦合入一个波导,然后进入第一模式转换耦合器(6a);

四束激光光束中的第三束激光,进入第三马赫曾德尔调制器(4c),第三马赫曾德尔调制器(4c)将电学数字信号调制到光学载波上,进入第二2×1多模干涉耦合器(5b);

四束激光光束中的第四束激光经第二电光移相器(3b)进行移相后进入第四马赫曾德尔调制器(4d),第四马赫曾德尔调制器(4d)将电学数字信号调制到光学载波上,进入第二2×1多模干涉耦合器(5b);

第二2×1多模干涉耦合器(5b)将两个波导中的两束激光耦合入一个波导,然后进入第一模式转换耦合器(6a);

第一模式转换耦合器(6a)将两束相同模式的激光耦合入一个波导,在此过程中其中一束激光模式发生转换,另一束激光光束模式保持不变;

第一模式转换耦合器(6a)输出的激光光束进入2×1多模干涉耦合器(7)。

4.根据权利要求2所述的硅基高速双载波双偏振调制器集成芯片,其特征在于,所述1×4多模干涉耦合器由三个1×2多模干涉耦合器级联而成,第二1×2多模干涉耦合器和第三1×2多模干涉耦合器并列设置,第一1×2多模干涉耦合器与第二1×2多模干涉耦合器和第三1×2多模干涉耦合器均级联,一束激光经过第一1×2多模干涉耦合器(2-1)后分为两束激光,其中一束激光进入第二1×2多模干涉耦合器(2-2)后再次分为两束激光,相同地,另一束激光进入第三1×2多模干涉耦合器(2-3)后也再次分为两束激光,则一束激光经过1×4多模干涉耦合器后变为四束激光。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611088806.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top