[发明专利]一种确定被测物电磁性能的测试装置

说明书

本发明公开了一种确定被测物电磁性能的测试装置，旨在解决现有技术中平面近场测试中还没有使用过采样技术，测量过程繁琐、测量精度低，其技术方案要点是：一种确定被测物电磁性能的测试装置，包括箱体、载物台、支架，所述支架包括立架和滑移杆，沿所述滑移杆的轴线方向设有多个探头；还包括用于驱动所述滑移杆沿所述立架移动的横向驱动装置和用于驱动多个所述探头同时沿所述滑移杆的轴线方向移动的轴向驱动装置。本发明的测试装置使用多探头，每次进行平面上多个点的扫描，通过两种位移装置，提供迅速构建平面场的快速扫描方法，具有能实现对被测物的过采样、采样过程更加简单方便、采样的数据点分布的更加密集、检测结果更加可靠等优点。

技术领域

本发明涉及天线测试技术领域，更具体地说，它涉及一种确定被测物电磁性能的测试装置。

背景技术

在对天线的电磁性能进行测试时，需要对被测物进行多个位点的检测，测试出多组数据从而可以更加全面的反映出被测物的电磁性能，为了提高检测结果的精确度，通常采用过采样的方式对被测物进行检测。众所周知，作为平面近场扫描，为了有效推导出一定范围内的远场，必须在整个平面内采样，并且必须满足采样点间距L<lambda/2,其中lambda为辐射信号的波长；而目前过采样的方法只在球面近场中普遍使用，在平面近场测试中还没有使用过采样技术。

发明内容

针对现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种确定被测物电磁性能的测试装置，具有能够实现数据过采样的优点。

本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种确定被测物电磁性能的测试装置，包括载物台和支架，所述支架包括设置在所述载物台两侧的立架和滑移连接于所述立架且能够形成覆盖所述载物台的滑移面的滑移杆，沿所述滑移杆的轴线方向设有多个探头；还包括用于驱动所述滑移杆沿所述立架移动的横向驱动装置和用于驱动多个所述探头同时沿所述滑移杆的轴线方向移动的轴向驱动装置，所述滑移杆包括外杆、滑动套接在所述外杆内用于固定多个所述探头的内杆、以及开设在所述外杆上供所述探头滑移的滑槽，所述滑移杆上设有用于限制所述内杆滑移距离的限位组件，所述限位组件包括开设在所述外杆上的安装槽、滑动连接在所述安装槽内限位块、形成于所述限位块上面向所述立架一侧的滑移斜面、两端分别固定于所述限位块和所述安装槽底壁且始终处于压缩状态的第一弹性件、以及开设在所述内杆上的限位槽，且当位于最外侧的所述探头靠近所述立架时，所述限位块嵌入所述限位槽内。

通过采用上述技术方案，测试时，先将被测物放置在载物台上，启动测试装置，通过探头对被测物进行探测，多个探头可以对被测物的多个位点进行探测，当滑移杆位于某一位置测得一组数据后，通过横向驱动装置驱动滑移杆移动一段距离，探头也随之移动一段距离，即可得出第二组数据，以此类推，将滑移杆由被测物的一侧移动至另一侧后，即可形成一组覆盖整个被测物并呈矩阵形式分布的数据点；随后通过轴向驱动装置，驱动多个探头同时沿着滑移杆的轴线方向移动一段距离，即可对前次未检测到的部分进行再次检测，将滑移杆重新由被测物的一侧移动至另一侧，即可形成另一组覆盖整个被测物并呈矩阵形式分布的数据点；通过横向驱动装置和轴向驱动装置，对多个探头的检测位置进行调节，从而形成多组覆盖被测物并呈矩阵形式分布的数据组，实现了对被测物的过采样，采样过程更加简单方便，采样的数据点分布的更加密集，检测结果更加可靠。滑动内杆即可带动多个探头同时移动，调节探头的过程简单方便。内杆在正常的滑移距离内滑移时，限位块受内杆的抵触被压缩在安装槽内，当内杆滑移至限位槽与限位块相对齐时，限位块受第一弹性件的弹性力作用而嵌入限位槽内，从而使内杆无法继续向前移动，使探头不会撞击到立架上；而由于在限位块上面向立架的一侧设有滑移斜面，内杆可以反向滑移而使限位块脱离限位槽，从而不会影响内杆在正常滑移距离内滑移。

本发明进一步设置为：所述横向驱动装置包括固定于所述立架的第一驱动电机、固定在所述第一驱动电机转轴上的主动轮、转动连接在所述立架上的从动轮、以及套设于所述主动轮和从动轮且固定于所述滑移杆的传送带。