[发明专利]待测器件的延迟测量电路及延迟测量方法有效
申请号: | 201611089103.5 | 申请日: | 2016-11-30 |
公开(公告)号: | CN108134594B | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
发明(设计)人: | 胡军 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | H03K5/13 | 分类号: | H03K5/13 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 张振军;吴敏 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 器件 延迟 测量 电路 测量方法 | ||
1.一种待测器件的延迟测量电路,其特征在于,包括:
环路振荡器,所述环路振荡器包括至少五个直接或间接串联成环的振荡单元,其中一个振荡单元的输出端耦接所述环路振荡器的输出端;
其中,每一个所述振荡单元包括待测器件、前置开关和旁路开关,所述待测器件的输入端耦接所述振荡单元的输入端,所述待测器件的输出端经由所述前置开关耦接所述振荡单元的第一输出端,所述振荡单元的第一输出端耦接后一级振荡单元的输入端,所述旁路开关的第一端耦接所述待测器件的输出端,所述旁路开关的第二端耦接所述振荡单元的第二输出端,所述振荡单元的第二输出端耦接后一级振荡单元的第一输出端;
周期测量单元,耦接所述环路振荡器的输出端,适于测量所述环路振荡器的振荡周期,并根据所述环路振荡器的振荡周期得到所述待测器件的延迟;
其中,在一组控制信号的作用下,所述环路振荡器中的各个前置开关和旁路开关导通或者关断,使得所述环路振荡器中的振荡单元中的待测器件串联形成振荡环路且满足环路振荡器的起振条件,并且受控串联于所述振荡环路中的各个振荡单元中,所述前置开关和旁路开关有且仅有一个导通;
辅助起振电路,串联于所述环路振荡器的振荡环路中,适于辅助所述环路振荡器中的振荡单元中的待测器件串联形成的所述振荡环路满足环路振荡器的起振条件;
所述辅助起振电路包括:第一辅助起振单元和第二辅助起振单元;
所述第一辅助起振单元包括:第一反相型器件、第一辅助前置开关和第一辅助旁路开关;
所述第二辅助起振单元包括:第二反相型器件、第二辅助前置开关和第二辅助旁路开关;
其中,所述第一反相型器件的输入端耦接前一级振荡单元的第一输出端,所述第一反相型器件的输出端耦接所述第一辅助前置开关的第一端和第一辅助旁路开关的第一端,所述第一辅助前置开关的第二端耦接所述第二反相型器件的输入端、前一级振荡单元的第二输出端和所述环路振荡器的输出端,所述第二反相型器件的输出端耦接所述第二辅助前置开关的第一端和第二辅助旁路开关的第一端,所述第二辅助前置开关的第二端耦接所述第一辅助旁路开关的第二端和后一级振荡单元的输入端,所述第二辅助旁路开关的第二端耦接后一级振荡单元的第一输出端。
2.根据权利要求1所述的延迟测量电路,其特征在于,所述环路振荡器中的各个前置开关和旁路开关的电参数一致。
3.根据权利要求2所述的延迟测量电路,其特征在于,所述环路振荡器中的各个前置开关和旁路开关在芯片上的版图结构一致。
4.根据权利要求1所述的延迟测量电路,其特征在于,被排除于所述振荡环路的振荡单元不相邻。
5.根据权利要求1所述的延迟测量电路,其特征在于,所述周期测量单元包括:分频器,适于将所述环路振荡器的输出端输出的信号进行分频以输出分频信号;
所述周期测量单元根据所述分频信号和所述分频器的分频比计算所述测量所述环路振荡器的振荡周期。
6.根据权利要求5所述的延迟测量电路,其特征在于,还包括:缓冲器,所述缓冲器的输入端耦接所述环路振荡器的输出端,所述缓冲器的输出端耦接所述分频器的输入端,适于对所述环路振荡器的输出端输出的信号进行阻抗匹配和/或波形整形。
7.根据权利要求6所述的延迟测量电路,其特征在于,所述缓冲器包括单级反相器或者多个级联的反相器。
8.根据权利要求1至7任一项所述的延迟测量电路,其特征在于,还包括:控制器,适于生成所述一组控制信号。
9.根据权利要求8所述的延迟测量电路,其特征在于,所述控制器接收一组选择信号,适于根据所述一组选择信号生成所述一组控制信号,所述一组选择信号指示各个所述振荡单元被串联于或者被排除于所述振荡环路。
10.根据权利要求1至7任一项所述的延迟测量电路,其特征在于,所述待测器件为反相型器件。
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