[发明专利]一种利用紫外激光处理钙钛矿太阳能电池中电子传输层的方法在审

专利信息
申请号: 201611094991.X 申请日: 2016-12-02
公开(公告)号: CN106935704A 公开(公告)日: 2017-07-07
发明(设计)人: 夏锐;董伟伟;王时茂;方晓东;邵景珍 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: H01L51/42 分类号: H01L51/42;H01L51/48
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司11251 代理人: 杨学明,顾炜
地址: 230031 *** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 利用 紫外 激光 处理 钙钛矿 太阳能电池 电子 传输 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及光电材料、新能源材料与技术领域,特别是半导体氧化物薄膜,激光退火处理方法以及钙钛矿太阳能电池的制作。

背景技术

钙钛矿太阳能电池近几年得到了飞快的发展,具有效率高,成本低,制备工艺简单等特点;电子传输层是钙钛矿太阳能电池中重要的结构,起到提高电子抽取,阻挡空穴传输的作用,电子传输层一般要求具有较高的透光性和较高的电子迁移率;TiO2和ZnO是被研究最广的电子传输层材料,为了获得更高的光电转换效率,通常需要500摄氏度左右的高温加热来提高它们的电子迁移率,这提高了电池制备成本且不适用于一些不耐高温的柔性衬底,研究者们希望降低电子传输层材料处理温度,同时保持高透过率和强导电性。

激光退火是一种在非晶硅领域常用的退火手段,相比于传统热处理,具有耗时短,晶化彻底,对基底伤害小等特点,通过激光退火处理氧化物半导体能进一步提高其光电性能。

发明内容

本发明技术解决问题:针对上述现有技术中存在的不足,提供一种利用紫外激光处理钙钛矿太阳能电池中电子传输层的方法,在低温条件下,使用激光退火处理,在硬质及柔性衬底上获得光学和电学性能优良的半导体氧化物薄膜,有效地运用到钙钛矿太阳能电池中,有效降低提高电子传输层的处理温度,提高电池的光电转换效率。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:如图1所示,一种利用紫外激光处理钙钛矿太阳能电池中电子传输层的方法,实现步骤如下:

(1)将FTO/ITO玻璃衬底、PI/PEN柔性衬底依次在丙酮、无水乙醇、去离子水中超声清洗,吹干备用;

(2)在FTO/ITO玻璃衬底、PI/PEN柔性衬底上使用磁控溅射法或旋涂法制备ZnO、AZO、GZO、TiO2及SnO2薄膜,真空保存备用;

(3)使用紫外激光对制备的薄膜进行脉冲轰击处理;

(4)将步骤(3)处理后的薄膜作为电子传输层,运用在钙钛矿太阳能电池中。

所述步骤(2)使用交流磁控溅射沉积ZnO,AZO,GZO,TiO2,SnO2薄膜的方法为:靶材与基底的距离为4-7厘米,工作过程中先依次使用机械泵,分子泵将腔体内真空抽至3-9×10-4帕,接着通入氩气,气流量为30-40毫升/分钟,通入5-10分钟后,将工作气压调整至0.2-1帕,预溅射10-20分钟后开始在基底上沉积薄膜,沉积时间为3-5分钟。沉积完成后取出,薄膜厚度为20-200纳米,放置真空干燥箱保存。

所述的旋涂法制备薄膜的方法,其特征在于:制备TiO2胶体,将200-400微升的异丙醇钛滴至2-3毫升的乙醇中,搅拌待用,记为溶液A;将20-50微升的1-3摩尔/升的盐酸溶液混入2-3毫升的乙醇中,搅拌待用,记为溶液B;在溶液A搅拌过程中,缓慢滴入B溶液,滴加完毕后,继续搅拌2-3小时,获得混合溶液;将混合溶液用0.22微米的过滤器过滤,并密封保存;在手套箱内使用匀胶机旋涂TiO2薄膜,转速为2000-4000转/分钟,旋涂20-50秒,随后100-150摄氏度热处理0.5-1小时,薄膜厚度为30-60纳米,真空保存。制备ZnO胶体,将0.5-2克的醋酸锌加入5-40毫升的乙二醇甲醚中,搅拌至完全溶解,再缓慢滴加0.2-1毫升的乙醇胺,搅拌1小时,用0.22微米的过滤器过滤后,放置具塞试管中,陈化12-48小时。滴加50-100微升的胶体溶液至基底上,手套箱中完成旋涂,转速3000-5000转/分钟,旋涂20-50秒,随后150-180摄氏度加热1-2小时,该过程重复1-3次,获得ZnO薄膜,薄膜厚度为30-90纳米左右。

所述步骤(3)使用的紫外激光采用308纳米,248纳米,及355纳米激光,单脉冲激光能量大小为20-1000mJ,脉冲频率为1-50赫兹,处理激光脉冲数为1-200。

所述步骤(2)中ZnO、AZO、GZO、TiO2及SnO2薄膜可以采用磁控溅射制备,也可以用旋涂法制备。

本发明与现有技术相比具有以下优点:

(1)本发明利用激光退火处理氧化物半导体薄膜,避免了高温制备,整个制备过程在室温及柔性衬底上进行。

(2)本发明利用激光退火处理半导体氧化物薄膜,有效地降低了薄膜的电阻率1到4个数量级;薄膜的透过率提升5至10%。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院合肥物质科学研究院,未经中国科学院合肥物质科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611094991.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top