[发明专利]检测压接质量的方法、装置及系统在审
申请号: | 201611102486.5 | 申请日: | 2016-12-02 |
公开(公告)号: | CN106596719A | 公开(公告)日: | 2017-04-26 |
发明(设计)人: | 李春生;周恺;蔡瀛淼;王谦;张祎果;叶宽;杨亮 | 申请(专利权)人: | 国网北京市电力公司;国家电网公司 |
主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04;G01N29/44 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人: | 韩建伟,张永明 |
地址: | 100031 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 质量 方法 装置 系统 | ||
技术领域
本发明涉及质量检测领域,具体而言,涉及一种检测压接质量的方法、装置及系统。
背景技术
运行中的架空输电线路出现掉线等线路事故,严重危害电网的安全运行,甚至造成难以预估的电网、人身事故,产生非常恶劣的社会影响,开展导线压接质量检测工作具有重要意义。
目前输电线路工程中,对压接型金具的压接质量检测方法为压接后进行外观尺寸检测和握力试验,其中,外观尺寸检测无法检测出金具内部的压接状态,无法直观判断金具的压接质量。握力试验是一种在试验室进行的破坏性检测方法,是一种抽查试验,无法代表线路实际运行中金具的压接状态,还会造成金具和导线的损耗。
上述检测方法无法对施工现场压接完成后的金具内部压接状态进行非破坏性的检查与抽检,更无法对高空中挂线后的压接型金具进行压接质量检验。因此无法从根本上排除此类压接质量不合格所造成的重大事故的隐患。
针对上述相关技术中无法对运行中的压接型金具进行非破坏性压接质量检测的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本发明实施例提供了一种检测压接质量的方法、装置及系统,以至少解决相关技术中无法对运行中的压接型金具进行非破坏性压接质量检测的技术问题。
根据本发明实施例的一个方面,提供了一种检测压接质量的方法,包括:发射超声波至待检测的压接型金具的预定部位;获取预定部位的超声波的反射图谱,其中,反射图谱用于记录超声波的反射波形;将反射图谱与对应的预设标准反射图谱进行比对,得到比对结果;根据比对结果确定压接型金具的压接质量是否合格。
进一步地,获取预定部位的超声波的反射图谱,包括:在预定部位存在空气间隙的情况下,获取预定部位的超声波的全反射图谱;在预定部位不存在空气间隙的情况下,获取预定部位的超声波的部分反射图谱。
进一步地,将反射图谱与对应的预设标准反射图谱进行比对,包括:在获取到预定部位的超声波的全反射图谱的情况下,将全反射图谱与预设不合格的标准反射图谱进行比对;在获取到预定部位的超声波的部分反射图谱的情况下,将部分反射图谱与预设合格的标准反射图谱进行比对。
进一步地,根据比对结果确定压接型金具的压接质量是否合格,包括:若比对结果为全反射图谱与预设不合格的标准反射图谱一致,确定压接型金具的压接质量不合格;若比对结果为部分反射图谱与预设合格的标准反射图谱一致,确定压接型金具的压接质量合格。
进一步地,确定压接型金具的压接质量合格,包括:在预定长度范围内继续发射超声波至压接型金具的至少两个检测面,得到至少两个检测面的超声波的反射图谱;比对反射图谱与预设合格的标准反射图谱,得到比对结果;若比对结果一致,确定压接型金具的压接质量合格。
进一步地,确定压接型金具的压接质量不合格,包括:在预定长度范围内继续发射超声波至压接型金具的至少两个检测面,得到至少两个检测面的超声波的反射图谱;比对反射图谱与预设不合格的标准反射图谱,得到比对结果;若比对结果一致,确定压接型金具的压接质量不合格。
进一步地,确定压接型金具的压接质量不合格之后,包括:若检测到反射图谱与预设合格的标准反射图谱一致,记录反射图谱发生变化的位置;根据反射图谱发生变化的位置,确定压接型金具的压接深度。
进一步地,发射超声波至待检测的压接型金具的预定部位之前,还包括:调整反射图谱中全反射波形的增益至预设值。
根据本发明实施例的另一方面,还提供了一种检测压接质量的装置,包括:发射模块,用于发射超声波至待检测的压接型金具的预定部位;获取模块,用于获取预定部位的超声波的反射图谱,其中,反射图谱用于记录超声波的反射波形;比对模块,用于将反射图谱与对应的预设标准反射图谱进行比对,得到比对结果;确定模块,用于根据比对结果确定压接型金具的压接质量是否合格。
进一步地,获取模块包括:第一获取子模块,用于在预定部位存在空气间隙的情况下,获取预定部位的超声波的全反射图谱;第二获取子模块,用于在预定部位不存在空气间隙的情况下,获取预定部位的超声波的部分反射图谱。
进一步地,比对模块包括:第一比对子模块,用于在获取到预定部位的超声波的全反射图谱的情况下,将全反射图谱与预设不合格的标准反射图谱进行比对;第二比对子模块,用于在获取到预定部位的超声波的部分反射图谱的情况下,将部分反射图谱与预设合格的标准反射图谱进行比对。
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