[发明专利]测试非边界扫描芯片及其周边线路的系统及其方法

说明书

本发明公开一种基于边界扫描测试非边界扫描芯片及其周边线路的系统及其方法，通过边界扫描芯片模拟非边界扫描芯片的工作时序以驱动非边界扫描芯片，边界扫描芯片判断非边界扫描芯片的输出数据是否与预设数据相符，藉此可以达成基于边界扫描测试非边界扫描芯片及其周边线路的技术功效。

技术领域

本发明涉及一种测试系统及其方法，尤其是指一种基于边界扫描测试非边界扫描芯片及其周边线路的系统及其方法。

背景技术

现有对于边界扫描芯片彼此之间的测试是通过边界扫描技术来进行，然而当边界扫描芯片之间的连接中有非边界扫描芯片时，边界扫描芯片与非边界扫描芯片彼此之间的连接则无法通过边界扫描技术来进行。

综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在现有技术无法通过边界扫描对非边界扫描芯片进行测试的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此一问题。

发明内容

有鉴于现有技术存在现有技术无法通过边界扫描对非边界扫描芯片进行测试的问题，本发明遂揭露一种基于边界扫描测试非边界扫描芯片及其周边线路的系统及其方法，其中：

本发明所揭露的基于边界扫描测试非边界扫描芯片及其周边线路的系统，其包含：至少一非边界扫描(Boundary Scan)芯片以及至少一边界扫描芯片。

其中，非边界扫描芯片包含至少一芯片驱动引脚、至少一第一数据输出引脚以及至少一第一数据输入引脚。

边界扫描芯片更包含至少一控制引脚、至少一第二数据输出引脚以及至少一第二数据输入引脚；控制引脚与芯片驱动引脚电性连接，并通过边界扫描技术设置芯片驱动引脚；第二数据输出引脚与第一数据输入引脚电性连接，通过边界扫描技术设置第一数据输入引脚的输入数据；第二数据输入引脚与第一数据输出引脚电性连接，用以读取第一数据输出引脚的输出数据。

其中，控制引脚通过边界扫描技术设置芯片驱动引脚、第二数据输出引脚通过边界扫描技术设置第一数据输入引脚的输入数据以及第二数据输入引脚读取第一数据输出引脚的输出数据以模拟非边界扫描芯片的工作时序，边界扫描芯片判断第一数据输出引脚的输出数据是否与预设数据相符：

当第一数据输出引脚的输出数据与预设数据相符时，则非边界扫描芯片通过测试为正常工作状态且非边界扫描芯片与边界扫描芯片引脚之间连接状态为正常；

当第一数据输出引脚的输出数据与预设数据不相符时，则非边界扫描芯片未通过测试即为非正常工作状态或是非边界扫描芯片与边界扫描芯片引脚之间连接状态为异常。

本发明所揭露的基于边界扫描测试非边界扫描芯片及其周边线路的方法，其包含下列步骤：

首先，提供至少一非边界扫描(Boundary Scan)芯片，非边界扫描芯片包含至少一芯片驱动引脚、至少一第一数据输出引脚以及至少一第一数据输入引脚；接着，提供至少一边界扫描芯片，包含至少一控制引脚、至少一第二数据输出引脚以及至少一第二数据输入引脚；接着，控制引脚与芯片驱动引脚电性连接，并通过边界扫描技术设置芯片驱动引脚；接着，第二数据输出引脚与第一数据输入引脚电性连接，通过边界扫描技术提设置第一数据输入引脚的输入数据；接着，第二数据输入引脚与第一数据输出引脚电性连接，用以读取第一数据输出引脚的输出数据；接着，边界扫描芯片判断第一数据输出引脚的输出数据是否与预设数据相符；接着，当第一数据输出引脚的输出数据与预设数据相符时，则非边界扫描芯片通过测试为正常工作状态且非边界扫描芯片与边界扫描芯片引脚之间连接状态为正常；最后，当第一数据输出引脚的输出数据与预设数据不相符时，则非边界扫描芯片未通过测试即为非正常工作状态或是非边界扫描芯片与边界扫描芯片引脚之间连接为异常；其中，控制引脚通过边界扫描技术设置芯片驱动引脚、第二数据输出引脚通过边界扫描技术设置第一数据输入引脚的输入数据以及第二数据输入引脚读取第一数据输出引脚的输出数据以模拟所述非边界扫描芯片的工作时序。