[发明专利]芯片类型识别系统、方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及信息安全技术领域，更具体地，涉及一种芯片类型识别系统、方法及装置。

背景技术

随着科技水平的日益提高，各种信息安全手段，如密码算法和安全芯片，越来越广泛地被用于日常生活、经济活动及军事应用中。同时，针对密码算法和硬件设备的攻击和防护研究也在不断深入。芯片在运行过程中会泄露除输入输出以外的信息，如功耗、电磁辐射、故障错误及时序信息等。由于利用高灵敏度的仪器截获设备中泄漏的电磁信号，根据泄露的电磁信号获取情报比用其它方法获得情报要更加准确、可靠、及时、连续且拥有更好的隐蔽性而不易被对方察觉，从而利用电磁泄漏窃取机密信息是国内外情报机关截获信息的重要途径。另外，电磁截获的内容十分广泛，如军事、政治及经济情报等。

其中，电磁分析对象主要是各种嵌入式芯片。例如，FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)、微控制器、智能卡及ASIC(Application Specific Integrated Circuits,专用集成电路)。由于芯片工作过程中产生的电磁信息泄露依赖于芯片中处理的数据(即中间值)，而这些中间值同芯片本身具有直接或间接的相关关系，从而基于该理论可在获知嵌入式芯片的类型后，实现精准攻击。另外，我国在芯片设计制造领域与国外存在较大的差距，并且在电磁攻击分析方面的研究相对国外起步较晚，理论深度和实验环境没有国外成熟。对芯片的电磁攻击方面研究较少，总体上说仍处在研究的探索阶段。另外，现在的芯片技术也使得大多数芯片底层工艺仅仅只是细微差别，从而就增加了芯片识别的难度。因此，如何有效地识别出芯片的类型，在防电磁泄漏以及电磁攻击领域，受到越来越多人们的关注与研究。

现有的芯片类型识别方法主要是根据芯片标识来对芯片类型进行识别。

在实现本发明的过程中，发现现有技术至少存在以下问题：由于是通过芯片标识来对芯片类型进行识别，而芯片有时候会没有标识或者无法获得芯片的标识，导致不能对芯片类型进行识别。因此，芯片识别过程的通用性差且识别率不高。

发明内容

本发明提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的室内定位方法及装置。

根据本发明的第一方面，提供了一种芯片类型识别系统，该系统包括：装载板、终端、电磁探头及数字存储示波器；

装载板与终端相连接，终端与数字存储示波器相连接，数字存储示波器与电磁探头相连接；

其中，装载板装载有待识别的芯片；电磁探头用于采集装载板泄露的电磁信号，数字存储示波器用于记录电磁探头采集的电磁信号；终端用于根据对电磁信号进行分析后的结果，识别芯片类型。

根据本发明的第二方面，提供了一种芯片类型识别方法，该方法包括：

对芯片工作时泄露的电磁信号进行检测；

当检测到采集到的电磁信号大于第一预设阈值时，以当前时刻为起始点，对后续的电磁信号进行记录，直到检测到电磁信号小于第二预设阈值为止，得到对应的目标电磁信号记录；

基于预先训练的支持向量机，根据目标电磁信号记录确定芯片的芯片类型。

根据本发明的第三方面，提供了一种芯片类型识别装置，该装置包括：

检测模块，用于对芯片工作时泄露的电磁信号进行检测；

记录模块，用于当检测到采集到的电磁信号大于第一预设阈值时，以当前时刻为起始点，对后续的电磁信号进行记录，直到检测到电磁信号小于第二预设阈值为止，得到对应的目标电磁信号记录；

确定模块，用于基于预先训练的支持向量机，根据目标电磁信号记录确定芯片的芯片类型。

本申请提出的技术方案带来的有益效果是：

通过对芯片工作时泄露的电磁信号进行检测。当检测到采集到的电磁信号大于第一预设阈值时，以当前时刻为起始点，对后续的电磁信号进行记录，直到检测到电磁信号小于第二预设阈值为止，得到对应的目标电磁信号记录。基于预先训练的支持向量机，根据目标电磁信号记录确定芯片的芯片类型。由于是基于机器学习的方法，将采集到的电磁信号通过预先训练的支持向量机来自动识别芯片类型，识别过程可用于任何场合，从而识别过程通用性及识别率较高。另外，支持向量机所需电磁泄漏曲线的数目较少，即所需采集样本数量较少。随着支持向量机不断地学习，系统的识别精度及鲁棒性还会逐渐提高。

最后，由于时通过采集泄露的电磁信号来实现芯片类型识别，整个过程是非接触性的且不会影响芯片的正常工作，从而整个识别过程隐蔽性很好，所获得的情报也更加准确及时且连续可靠。

附图说明