[发明专利]用于外形尺寸的光学测量方法和测量装置

权利要求书

1.一种用于测量被测物体的外形尺寸的光学测量方法，该方法包括：

提供发射由平行光束构成的带状测量光束的光发射器，其中在该测量光束中至少限定主测量光束和次测量光束；

提供反射测量光束并形成反射光束的反射器，其中在反射光束中至少限定主反射光束和次反射光束，所述主反射光束是主测量光束的反射光，所述次反射光束是次测量光束的反射光；

提供接收反射光束的光接收器；

将光发射器和反射器布置为使得测量光束的光轴和反射光束的光轴相交；

在同一个测量平面内形成测量光束和反射光束；

将被测物体置于测量平面内的测量区中，主测量光束和次反射光束在该测量区中交叠；

根据显现在主反射光束中的被测物体的阴影测量被测物体的主方向上的外形尺寸；和

根据显现在次反射光束中的被测物体的阴影测量被测物体的次方向上的外形尺寸。

2.一种用于测量被测物体的外形尺寸的光学测量装置，该装置包括：

配置为发射由平行光束构成的带状测量光束的光发射器，该测量光束至少包括主测量光束和次测量光束；

配置为反射测量光束并形成反射光束的反射器，该反射光束至少包括主反射光束和次反射光束，所述主反射光束是主测量光束的反射光，所述次反射光束是次测量光束的反射光，其中，所述光发射器和所述反射器布置为使得：

测量光束的光轴和反射光束的光轴相交，和

测量光束和反射光束形成在同一个测量平面内；

配置为接收反射光束的光接收器；和

测量区，主测量光束和次反射光束在测量平面内在该测量区中交叠，该测量区配置为接受被测物体。