[发明专利]一种射频器件的调试方法

权利要求书

1.一种射频器件的调试方法，所述射频器件包括至少一调谐螺杆，其特征在于，所述方法包括：

对所述调谐螺杆的螺杆位置的搜索空间进行采样，进而获得多组螺杆位置组合，其中每一所述螺杆位置组合中包括分别对应于每一所述调谐螺杆的待调试位置；

按照每一所述螺杆位置组合中的待调试位置分别对对应的所述调谐螺杆进行位置调整，并获取调整后的所述射频器件的第一调试波形；

计算每一所述螺杆位置组合所对应的第一调试波形与目标波形的相似度，并根据所述相似度设置对应的所述螺杆位置组合的权重值，其中所述目标波形为用于表征所述射频器件满足调试要求的波形，所述相似度越大，对应的所述螺杆位置组合的权重值越高；

根据所述权重值和所述螺杆位置组合对每一所述调谐螺杆的目标位置进行估算。

2.根据权利要求1中的方法，其特征在于，所述计算每一所述螺杆位置组合所对应的第一调试波形与目标波形的相似度，并根据所述相似度设置对应的所述螺杆位置组合的权重值的步骤包括：

计算所述第一调试波形与所述目标波形之间的均方误差；

根据所述均方误差计算所述相似度，其中所述均方误差越大，所述相似度越低。

3.根据权利要求2中的方法，其特征在于，所述根据所述均方误差计算所述相似度的步骤包括：

将所述均方误差的倒数作为所述相似度。

4.根据权利要求2中的方法，其特征在于，所述计算所述第一调试波形与所述目标波形之间的均方误差的步骤进一步包括：

对所述第一调试波形进行平移，并计算平移后的第一调试波形与所述目标波形之间的均方误差；

所述根据所述均方误差计算所述相似度的步骤包括：

根据所述均方误差中的最小均方误差及其对应的平移量计算所述相似度，其中所述平移量越大，所述相似度越低，所述最小均方误差越大，所述相似度越低，其中所述最小均方误差为平移前和/或平移后计算得到的至少两个所述均方误差中数值最小的均方误差。

5.根据权利要求4中的方法，其特征在于，所述根据所述均方误差中的最小均方误差及其对应的平移量计算所述相似度的步骤包括：

根据以下公式计算所述相似度：

其中，S表示所述相似度，d为所述最小均方误差，δ为所述最小均方误差所对应的平移量，λ为经验系数，μ为比例系数。

6.根据权利要求1中的方法，其特征在于，所述计算每一所述螺杆位置组合所对应的第一调试波形与目标波形的相似度，并根据所述相似度设置对应的所述螺杆位置组合的权重值的步骤包括：

将所述相似度进行归一化，并将归一化的所述相似度作为对应的所述螺杆位置组合的权重值；

所述根据所述权重值和所述螺杆位置组合对每一所述调谐螺杆的目标位置进行估算的步骤包括：

利用所述权重值对所述多组螺杆位置组合中对应于同一所述调谐螺杆的待调试位置进行加权求和，进而获得所述调谐螺杆的目标位置。

7.根据权利要求1中的方法，其特征在于，所述方法进一步包括：

按照估算出的目标位置对对应的所述调谐螺杆进行位置调整，并获取调整后的所述射频器件的第二调试波形；

判断所述第二调试波形是否满足调试指标；

若不满足所述调试指标，则根据所述权重值和所述螺杆位置组合进行重要性重采样，进而重新获得多组所述螺杆位置组合，并返回所述按照每一所述螺杆位置组合中的待调试位置分别对对应的所述调谐螺杆进行位置调整，并获取调整后的所述射频器件的第一调试波形的步骤。

8.根据权利要求7中的方法，其特征在于，所述根据所述权重值和所述螺杆位置组合进行重要性重采样，进而重新获得多组所述螺杆位置组合的步骤包括：

根据所述螺杆位置组合的权重值舍弃所述权重值相对较低的部分所述螺杆位置组合，并保留所述权重值相对较高的部分所述螺杆位置组合；

在保留的部分所述螺杆位置组合的基础上重新获得多组所述螺杆位置组合，以使得重要性重采样后的所述螺杆位置组合与重要性重采样前的所述螺杆位置组合至少部分不同。