[发明专利]低轨道一次放电试验件在审
申请号: | 201611122727.2 | 申请日: | 2016-12-08 |
公开(公告)号: | CN106784101A | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 储红;葛圣胤;刘睿;刘智;尤黔林 | 申请(专利权)人: | 上海空间电源研究所 |
主分类号: | H01L31/05 | 分类号: | H01L31/05 |
代理公司: | 上海航天局专利中心31107 | 代理人: | 金家山 |
地址: | 200245 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 轨道 一次 放电 试验 | ||
1.低轨道一次放电试验件,其特征在于,包括基板、太阳电池串、金属连接片和导线;所述太阳电池串和金属连接片均设置在所述基板上;所述太阳电池串至少有三串,每串所述太阳电池串至少包含三个太阳电池,各太阳电池串相互平行,且至少有一串所述太阳电池串位于靠近基板边框的位置;每串所述太阳电池串的两端各设有一片所述金属连接片,且连接所述金属连接片;每片所述金属连接片均连接一根所述导线。
2.如权利要求1所述的低轨道一次放电试验件,其特征在于,所述金属连接片为银连接片。
3.如权利要求1所述的低轨道一次放电试验件,其特征在于,所述太阳电池串有三串,每串所述太阳电池串包含三个太阳电池。
4.如权利要求3所述的低轨道一次放电试验件,其特征在于,三串所述太阳电池串中有两串位于靠近基板边框的位置。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的