[发明专利]提供扩充联合测试工作组接口的扩充电路板

说明书

本发明公开一种提供扩充联合测试工作组接口的扩充电路板，将测试数据输入引脚、测试数据输出引脚、测试时钟引脚以及测试模式选择引脚通过线路的配置、多工器以及缓冲器的组合与控制，提供扩充联合测试工作组接口与对扩充的联合测试工作组接口进行控制，藉此可以达成提供扩展联合测试工作组连接接口以提高联合测试工作组测试需求的技术功效。

技术领域

本发明涉及一种扩充电路板，尤其是指一种将测试数据输入引脚、测试数据输出引脚、测试时钟引脚以及测试模式选择引脚通过线路的配置、多工器以及缓冲器的组合与控制，提供扩充联合测试工作组接口与对扩充的联合测试工作组接口进行控制以提供扩充联合测试工作组接口的扩充电路板。

背景技术

一般电路的边界扫描测试(boundary scan test)或是利用边界扫描(boundaryscan)进行插槽的测试通常是通过测试访问端口控制器来进行测试，然而测试访问端口控制器一般仅提供数量有限的测试访问端口，若电路的边界扫描测试是需要大量联合测试工作组接口，则需要使用多个测试访问端口控制器，但这样子的测试成本较高，若是使用数量有限的测试访问端口控制器时，又需要耗费多余的测试时间，也有可能造成测试信号覆盖欠缺的问题。

综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在现有测试访问端口控制器提供测试访问端口数量有限而无法满足大量测试或是满足大量测试却需要较高的测试成本的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此一问题。

发明内容

有鉴于现有技术存在现有测试访问端口控制器提供测试访问端口数量有限而无法满足大量测试或是满足大量测试却需要较高的测试成本的问题，本发明遂揭露一种提供扩充联合测试工作组接口的扩充电路板，其中：

本发明所揭露的提供扩充联合测试工作组接口的扩充电路板，其包含：联合测试工作组(Joint Test Action Group，JTAG)扩充电路板，联合测试工作组扩充电路板更包含：联合测试工作组接口以及八个扩充联合测试工作组接口。

其中，联合测试工作组接口更包含第一测试数据输入(Test Data Input，TDI)引脚、第一测试数据输出(Test Data Output，TDO)引脚、第一测试时钟(Test Clock，TCK)引脚以及第一测试模式选择(Test Mode Select，TMS)引脚；联合测试工作组接口电性连接于测试访问端口(Test Access Port，TAP)控制器的测试访问端口。

扩充联合测试工作组接口，每一个扩充联合测试工作组接口更包含第二测试数据输入引脚、第二测试数据输出引脚、第二测试时钟引脚以及第二测试模式选择。

第一测试数据输入引脚通过第一多工器(Multiplexer)分别电性连接至每一个扩充联合测试工作组接口的第二测试数据输入引脚；第一测试数据输出引脚通过第二多工器分别电性连接至每一个扩充联合测试工作组接口的第二测试数据输出引脚；每一个扩充联合测试工作组接口的第二测试数据输出引脚通过保护电阻与另一个扩充联合测试工作组接口的第二测试数据输入引脚电性连接，藉以使每一个扩充联合测试工作组接口形成串联；第一测试时钟引脚通过第一缓冲器(Buffer)分别电性连接于扩充联合测试工作组接口的第二测试时钟引脚；及第一测试模式选择引脚通过第二缓冲器分别电性连接于扩充联合测试工作组接口的第二测试模式选择引脚。