[发明专利]在线测量负载牵引系统的源反射系数的方法在审
| 申请号： | 201611132071.2 | 申请日： | 2016-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN108226643A | 公开（公告）日： | 2018-06-29 |
| 发明（设计）人： | 余庭 | 申请（专利权）人： | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
| 主分类号： | G01R27/06 | 分类号： | G01R27/06 |
| 代理公司： | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人： | 孙伟峰 |
| 地址： | 215123 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 反射系数 源阻抗 负载牵引 在线测量 调配器 阻抗 等高线 矢量网络分析仪 读取 功率放大器 史密斯圆图 负载阻抗 预定位置 功率计 信号源 共轭 收敛 绘制 | ||
1.一种在线测量负载牵引系统的源反射系数的方法，所述负载牵引系统包括源阻抗调配器、依次与所述源阻抗调配器的输入端连接的功率放大器和信号源、依次与所述源阻抗调配器连接的直通件和负载阻抗调配器以及与所述负载阻抗调配器的输出端面连接的功率计，其特征在于，包括以下步骤：
通过矢量网络分析仪获得所述源阻抗调配器的S参数；
打开所述信号源和所述功率放大器，将所述负载阻抗调配器置于预定位置；
将所述源阻抗调配器分别移至多个阻抗点，从所述功率计上分别读取所述多个阻抗点对应的功率值；
通过插值的方法将所述多个阻抗点对应的功率值绘制成史密斯圆图的等高线，对所述等高线收敛的最高点所对应的反射系数取共轭得到源阻抗；
根据所述S参数和所述源阻抗计算得到所述源反射系数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在获得所述S参数之前分别对所述负载牵引系统的源阻抗调配器和负载阻抗调配器进行校准。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，从所述功率计上分别读取所述多个阻抗点对应的功率值后需要对所述多个阻抗点对应的功率值去嵌入平移到所述源阻抗调配器的输入端。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预定位置为所述负载阻抗调配器阻抗为50欧姆的位置。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述功率放大器工作在线性区。
6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，所述多个阻抗点中包括阻抗为50欧姆的阻抗点。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述阻抗点的数量为5。
8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述多个阻抗点中的其他阻抗点在从所述源阻抗调配器的输入端向所述功率计的方向看去的反射系数的绝对值为0～0.5。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述多个阻抗点中的其他阻抗点在从所述源阻抗调配器的输入端向所述功率计的方向看去的反射系数的绝对值相等。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述多个阻抗点中的其他阻抗点在从所述源阻抗调配器的输入端向所述功率计的方向看去的反射系数在史密斯圆图上围绕阻抗为50欧姆的阻抗点等相位均匀分布。
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