[发明专利]韦布尔杂波环境下基于偏斜度的恒虚警检测方法有效
申请号: | 201611140540.5 | 申请日: | 2016-12-12 |
公开(公告)号: | CN108614244B | 公开(公告)日: | 2022-01-07 |
发明(设计)人: | 张仁李;于张杰;盛卫星;韩玉兵;马晓峰 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01S7/36 | 分类号: | G01S7/36 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 王玮 |
地址: | 210094 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 布尔 环境 基于 偏斜 恒虚警 检测 方法 | ||
1.一种韦布尔环境下基于偏斜度的恒虚警检测方法,其特征在于包括以下步骤:
步骤一:将雷达接收的数据传入匹配滤波器和动目标检测处理器中,处理后输出数据为由幅度、相位信息所组成的复数,将输出数据进行包络检波处理;
步骤二:将包络检波器输出送入对数放大器,获得的序列Y1,...,YN,利用对数放大器输出结果进行恒虚警检测,在初始时刻恒虚警检测器参考滑窗中参考单元数量为N,经排列后序列为Z1,...,ZN,其中Z1≤Z2≤...≤ZN;
步骤三:记对参考滑窗中的参考单元计算统计量偏斜度SK,将SK与偏斜度门限TSK_N进行比较,若SKTSK_N,转入步骤五,否则执行步骤四;
所述计算统计量偏斜度的具体方法如下:
步骤3-1:韦布尔分布中的偏斜度特性;韦布尔分布杂波包络的概率密度函数为:
其中,X是包络检波器输出信号,b表示分布强度的尺度参数,c表示分布偏斜度的形状参数;利用对数放大器将韦布尔分布转换为Gumbel分布,即使y=lnx,有如下公式:
其中,α=lnb为尺度参数,β=1/c为形状参数,
其中是Euler–Mascheroni常数;Y的期望E和方差σ2由上式给出;
偏斜度γ1是随机变量Y的三阶标准矩,由如下公式计算:
其中μ是均值,σ是标准差,E是期望运算符,μ3是三阶中心矩;等式最后一项用三阶积累量κ3和二阶积累量κ2的1.5次方的比值来表示偏斜度;当n>1时,积累量由下式给出:
κn=(n-1)!ζ(n)
其中,ζ(n)是Riemann zeta函数,是复数变量n解析延拓无穷级数和的函数;
结合上述公式,Gumbel分布的偏斜度γ1由下式得到:
步骤3-2:偏斜度门限的确定;
在CFAR检测器工作时,对于经过对数放大器放大后的参考单元序列Y1,...,YN,偏斜度的计算公式为:
其中,N为参考单元数目,μY和σY分别为输入参考单元序列的均值和标准差,计算公式分别如下:
偏斜度门限TSK_N由下式决定:
β0=P[SK>TSK_N|均匀环境]
其中β0=10-3为偏斜度数值超过偏斜度门限的概率;
步骤5:确定SK-CFAR检测门限;Log-t CFAR的检测统计量为:
其中,Zi为对数放大后的经过循环迭代删除处理的输出序列,N为实际删除后参考单元数目,将检测统计量t与虚警概率Pfa对应的Log-t CFAR门限因子进行比较判断目标是否存在;
步骤四:认为参考滑窗中存在干扰目标,将参考滑窗中的最大值ZN删除,参考滑窗中参考单元数量为N=N-1,返回步骤三;
步骤五:将剩余参考单元采用经典Log-T CFAR方法计算检测门限,进行恒虚警检测。
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