[发明专利]用于离散量信号处理芯片的自检方法

权利要求书

1.一种用于离散量信号处理芯片的自检方法，其特征在于，当电路上电启动时对内部的基准模块、比较器及输出通路进行检测，当输出数据与预期一致时电路可进入正常工作模式，当输出数据与预期不一致时通过fault信号指示出来，数据输出端口相应的指示具体的哪一路信号出错发起自检，分别包括“0/1”和“1/0”两种方式，具体包括下列步骤，

“0/1”自检按照以下步骤进行：

1)“0/1”自检寄存器位配置成功后，发出自检使能信号(test_en＝1)，并屏蔽离散量输入端口；

2)启动低边自检使能(test_lo＝1)，同时发出“0”自检控制信号(test_sel0_reg＝1，test_sel1_reg＝0)；

3)若输出数据td<n:0>不全部为“0”，则将fault引脚置为“1”，终止自检；若输出数据td<7:0>数据全部为“0”，表示自检数据正确，可进行下一步；

4)发出“1”自检控制信号(test_sel0_reg＝0，test_sel1_reg＝1)；

5)若输出数据td<n:0>不全部为“1”，fault引脚为“1”，终止自检；若输出数据td<7:0>全部为“1”，表示自检数据正确，可进行下一步；

6)启动高边自检使能(test_hi＝1)，同时发出“0”自检控制信号(test_sel0_reg＝1，test_sel1_reg＝0)；

7)重复步骤3)，4)和5)一次，之后进行下一步；

8)将fault引脚置为“0”，表示此次自检无错，设置“0/1”＝0；

“1/0”自检按照以下步骤进行：

1)“1/0”自检寄存器位配置成功后，发出自检使能信号(test_en＝1)，并封锁离散量输入端口；

2)启动低边自检使能(test_lo＝1)，同时发出“1”自检控制信号(test_sel0_reg＝0，test_sel1_reg＝1)；

3)若输出数据td<7:0>不全部为“1”，则将fault引脚置为“1”，终止自检；若输出数据td<7:0>全部为“1”，表示自检数据正确，可进行下一步；

4)发出“0”自检控制信号(test_sel0_reg＝1，test_sel1_reg＝0)；

5)若输出数据td<7:0>不全部为“0”，fault引脚为“1”，终止自检；若输出数据td<7:0>全部为“0”，表示自检数据正确，可进行下一步；

6)启动高边自检使能(test_hi＝1)，同时发出“1”自检控制信号(test_sel0_reg＝0，test_sel1_reg＝1)；

7)重复步骤3)，4)和5)一次，之后进行下一步；

8)将fault引脚置为“0”，表示此次自检无错，设置“1/0”＝0。