[发明专利]具自我检测功能的测试电路板及其自我检测方法

说明书

本发明公开一种具自我检测功能的测试电路板及其自我检测方法，通过联合测试工作组芯片以进行待测试电路板的检测以及测试电路板的自我检测，在自我测试通过时，再将第一联合测试工作组接口以及第二联合测试工作组接口通过控制器、数据多工器、开关芯片导通以串接测试电路板，藉此可以达成提供方便且快速解决串接联合测试工作组芯片自我故障检测的技术功效。

技术领域

本发明涉及一种测试电路板及其自我检测方法，尤其是指一种通过联合测试工作组芯片以进行待测试电路板的检测以及测试电路板的自我检测，在自我测试通过时，在将第一联合测试工作组接口以及第二联合测试工作组接口通过控制器、数据多工器、开关芯片导通以串接测试电路板的具自我检测功能的测试电路板及其自我检测方法。

背景技术

在电路板测试检测技术中，采用边界扫描技术越来越广泛的应用，在实际使用边界扫描时，其中一种方式是将多个测试电路板串接在一起以形成一个联合测试工作组炼，以进行大量联合测试工作组接口的测试。

在通过多个测试电路板串接在一起，是通过将联合测试工作组芯片的联合测试工作组信号串联在一起，即测试时钟(Test Clock，TCK)以及测试模式选择(Test ModeSelect，TMS)是采用并接方式，而测试数据输入(Test Data Input，TDI)以及测试数据输出(Test Data Output，TDO)是采用串接方式，藉以形成一个联合测试工作组链，以进行大量联合测试工作组接口的测试。

但若是在联合测试工作组炼中有联合测试工作组芯片出现故障时，在现有测试架构下将很难找出是哪一个联合测试工作组芯片出现故障，若是要确认故障的联合测试工作组芯片，必然会耗费庞大的检测时间方能找出出现故障的联合测试工作组芯片。

综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在现有串接联合测试工作组芯片方式具有故障检测不便且费时的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此一问题。

发明内容

有鉴于现有技术存在现有串接联合测试工作组芯片方式具有故障检测不便且费时的问题，本发明遂揭露一种具自我检测功能的测试电路板及其自我测试方法，其中：

本发明所揭露的具自我检测功能的测试电路板，其包含：第一联合测试工作组(Joint Test Action Group)接口、联合测试工作组芯片、控制器、数据多工器(multiplexer，MUX)、开关芯片、缓冲寄存器(Buffer)、第二联合测试工作组接口以及测试接口，其中，第一联合测试工作组接口包含第一测试时钟(Test Clock，TCK)引脚、第一测试模式选择(Test Mode Select，TMS)引脚、第一测试数据输入(Test Data Input，TDI)引脚以及第一测试数据输出(Test Data Output，TDO)引脚；以及第二联合测试工作组接口包含第二测试时钟引脚、第二测试模式选择引脚、第二测试数据输入引脚以及第二测试数据输出引脚。

第一联合测试工作组接口是用以与联合测试工作组控制器或是其他的测试电路板电性连接；联合测试工作组芯片与第一测试时钟引脚、第一测试模式选择引脚以及第一测试数据输入引脚电性连接，联合测试工作组控制器控制联合测试工作组芯片以进行测试电路板的自我检测，以及当联合测试工作组芯片通过测试电路板的自我检测时产生通讯信号；控制器与联合测试工作组芯片电性连接；数据多工器与联合测试工作组芯片的数据输出引脚以及控制器电性连接，在预设设定中，第一测试数据输出引脚会通过数据多工器与联合测试工作组芯片的数据输出引脚电性连接；开关芯片与第一测试数据输出引脚、控制器、数据多工器电性连接；缓冲寄存器与第一测试时钟引脚以及第一测试模式选择引脚电性连接；第二联合测试工作组接口，用以与其他的测试电路板的第一联合测试工作组接口电性连接，第二测试时钟引脚以及第二测试模式选择引脚与缓冲寄存器电性连接，第二测试数据输入引脚与数据多工器电性连接，第二测试数据输出引脚与开关芯片电性连接；及测试接口分别与联合测试工作组芯片以及待测试电路板电性连接，联合测试工作组芯片通过测试接口以对待测试电路板的进行检测。