[发明专利]一种检测装置、方法及电子设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种测控技术领域，特别是涉及一种检测装置、方法及电子设备。

背景技术

由于在高速信号中，Sink端的直流偏置电压和source端的直流偏置电压不一样，故要采用交流电容耦合信号，所以SATA、PCIE、USB3.0等差分线通常都会串接0.1uf的电容。

基于电容的特性，加入了0.1uf电容的线路，会隔断整条交流电容耦合信号线路，普通检测电路只能检测交流电容耦合信号线路是否有短路，对于交流电容耦合信号线路中是否有缺件、错件及开路的情况则无法检测。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种检测装置、方法及电子设备，用于解决现有技术中无法检测交流电容耦合信号电路中是否有缺件、错件及开路的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种检测装置，包括一交流电容耦合信号电路，所述交流电容耦合信号电路包括一第一电容及一第一电阻，所述第一电容的一端与所述第一电阻的一端及所述检测装置连接，所述第一电容的另一端连接第一电源，所述第一电阻的另一端接地；所述检测装置包括：一发送模块、一接口模块、及一检测模块；其中，

所述发送模块，用于确定需要检测所述交流电容耦合信号电路的一工作状态时，将一高电平状态指示信息发送给所述接口模块；在所述接口模块的一工作状态转化为一高电平状态的一预设时间段后，将一读取状态指示信息发送给所述接口模块；

所述接口模块，用于接收到所述高电平状态指示信息时，根据所述高电平状态指示信息将自身的所述工作状态转化为所述高电平状态；接收到所述读取状态指示信息时，根据所述读取状态指示信息将自身的所述工作状态转化为一读取状态；

所述检测模块，用于在所述接口模块的所述工作状态转化为所述读取状态时，检测所述接口模块的一工作电压自开始降低至最后电压为零的时间以作为一延时值，根据所检测的所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的一预定延时值确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态。

优选地，所述检测模块具体用于：

将所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的一第一延时值进行比较；

若所述延时值小于或等于所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值，则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为一开路状态；否则，将所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的一第二延时值进行比较；

若所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值相同，则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为一正常状态；

若所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值不相同，则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为一错件或缺件状态。

优选地，所述检测模块具体用于：

将所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值进行比较；

若所述延时值小于或等于所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值，则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述开路状态；否则，计算所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值的差值；

将所述差值与一阈值进行比较；

若所述差值小于或等于所述阈值，则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述正常状态；

若所述差值大于所述阈值，则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述错件或缺件状态；

其中，所述第一延时值小于所述第二延时值。

优选地，所述检测模块，还用于在所述接口模块的所述工作状态转化为所述读取状态后，且所述接口模块的所述工作电压自开始降低至最后电压为接近零的情况下，确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为一短路状态。

基于上述装置，本发明实施例提供了一种检测方法，所述方法包括：所述发送模块确定需要检测所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态时，将所述高电平状态指示信息发送给所述接口模块；

所述接口模块根据所述高电平状态指示信息将自身的所述工作状态转化为所述高电平状态；

所述发送模块在所述接口模块的所述工作状态转化为所述高电平状态的所述预设时间段后，将所述读取状态指示信息发送给所述接口模块；

所述接口模块根据所述读取状态指示信息将自身的所述工作状态转化为所述读取状态；