[发明专利]一种测试方法和装置

权利要求书

1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：

微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器；

所述继电器接收所述闭合指令或所述断开指令，并根据所述闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接，或根据所述断开指令断开所述电源与所述待测模块之间的电连接，以测试所述待测模块的耐冲击性能。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器之前，还包括：

控制按钮根据用户的操作发送所述闭合指令或所述断开指令至所述微处理器；

所述微处理器接收所述闭合指令或所述断开指令。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述控制按钮根据用户的操作发送所述闭合指令或所述断开指令至所述微处理器之前，还包括：

档位开关按照所述用户的切换操作切换档位，并将所述档位表示的控制参数的类型发送至微处理器，所述控制参数的类型包括连通时长、断开时长和通断次数；

数字开关按照所述用户的调节操作，调节所述控制参数的数值，并将已调节的所述控制参数的数值发送至所述微处理器。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器，具体包括：所述微处理器发送所述闭合指令至所述继电器，并判断发送所述闭合指令后的等待时长是否与所述连通时长相等；

若相等，则所述微处理器发送所述断开指令至所述继电器；

所述微处理器判断发送所述断开指令后的等待时长是否与所述断开时长时长相等；

若相等，则所述微处理器发送所述闭合指令至所述继电器，直到所述微处理器发送所述闭合指令或所述断开指令的次数为所述通断次数。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述数字开关按照所述用户的调节操作，调节所述控制参数的数值，并将已调节的所述控制参数的数值发送至所述微处理器之后，还包括：

所述微处理器将接收的所述控制参数的类型和所述控制参数的数值发送至显示屏；

所述显示屏显示所述控制参数的类型和所述控制参数的数值。

6.一种测试装置，其特征在于，所述装置包括：

微处理器，用于发送闭合指令或断开指令至继电器；

所述继电器，用于接收所述闭合指令或所述断开指令，并根据所述闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接，或根据所述断开指令断开所述电源与所述待测模块之间的电连接，以测试所述待测模块的耐冲击性能。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

控制按钮，用于根据用户的操作发送所述闭合指令或所述断开指令至所述微处理器；

所述微处理器，还用于接收所述闭合指令或所述断开指令。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

档位开关，用于按照所述用户的切换操作切换档位，并将所述档位所表示的控制参数的类型发送至微处理器，所述控制参数的类型包括连通时长、断开时长和通断次数；

数字开关，用于按照所述用户的调节操作，调节所述控制参数的数值，并将已调节的所述控制参数的数值发送至所述微处理器。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，

所述微处理器，还用于发送所述闭合指令至所述继电器，并判断发送所述闭合指令后的等待时长是否与所述连通时长相等；

所述微处理器，还用于若相等，则发送所述断开指令至所述继电器；

所述微处理器，还用于判断发送所述断开指令后的等待时长是否与所述断开时长相等；

所述微处理器，还用于若相等，则发送所述闭合指令至所述继电器，直到所述微处理器发送所述闭合指令或所述断开指令的次数所述通断次数。

10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，

所述微处理器，还用于将接收的所述控制参数的类型和所述控制参数的数值发送至显示屏；

所述显示屏，用于显示所述控制参数的类型和所述控制参数的数值。