[发明专利]一种薄片类金相分析试样卡具

权利要求书

1.一种薄片类金相分析试样卡具，主要包括螺钉、压紧板、基座和垫块，其特征在于：所述基座为长方体硬质结构，从顶部向下加工倒三角形卡口，卡口的底端与基座的透孔相通，在基座卡口的顶部两侧分别向下加工螺纹孔A；所述垫块的顶部为长方体支撑台、底部为倒三角插头，且倒三角插头与基座的倒三角形卡口相互配合；所述压紧板的主体为长方体板体结构，在底部加工一个与垫块的长方体支撑台尺寸对应的压槽，在压紧板的顶面两侧分别向下开设螺纹孔B；垫块的倒三角插头插入基座的倒三角形卡口中，压紧板的压槽扣在垫块支撑台上，螺钉穿过压紧板的螺纹孔B与基座的螺纹孔A连接，通过螺钉将压紧板与基座相连。

2.根据权利要求1所述的一种薄片类金相分析试样卡具，其特征在于：所述垫块上加工螺纹孔C，在螺纹孔C中螺纹连接一根螺纹销，所述螺纹销的插入段为螺纹结构，伸出段的大小和形状可调，伸出段与扫描电镜上载物台不同尺寸形状的孔型相配合。