[发明专利]纹理图像补全方法及装置在审
申请号: | 201611149401.9 | 申请日: | 2016-12-14 |
公开(公告)号: | CN106600552A | 公开(公告)日: | 2017-04-26 |
发明(设计)人: | 张兆辉;杜社宽;廖建波;张晓磊;杨贵前 | 申请(专利权)人: | 中国科学院地质与地球物理研究所兰州油气资源研究中心 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T11/40 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 | 代理人: | 唐维虎 |
地址: | 730099 甘肃*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 纹理 图像 方法 装置 | ||
1.一种纹理图像补全方法,其特征在于,所述方法包括:
在灰度化纹理图像上确定待填充区域,并在所述待填充区域上选取一填充中心点;
基于所述填充中心点周围预设纹理检测范围内的图像纹理特征确定一待填充块;
基于该待填充块的大小在所述纹理图像中选取多个候选填充块,并基于该待填充块的平均像素灰度计算得到所述多个候选填充块与所述待填充块的相似度,选取一与该待填充块相似度最高的候选填充块作为最优填充块;
使用所述最优填充块对该待填充块进行图像填充。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述纹理特征由所述填充中心点周围预设纹理检测范围内的像素平均梯度模值表征;所述基于所述填充中心点周围预设纹理检测范围内的图像纹理特征确定一待填充块的步骤,包括:
计算所述填充中心点周围预设纹理检测范围内的像素平均梯度模值;
基于所述像素平均梯度模值,以所述填充中心点为中心确定一待填充块的大小。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于该待填充块的大小在所述纹理图像中选取多个候选填充块,并基于该待填充块的平均像素灰度计算得到所述多个候选填充块与所述待填充块的相似度,选取一与该待填充块相似度最高的候选填充块作为最优填充块的步骤,包括:
在所述填充中心点周围一预设搜索范围内的已填充区域中,选取多个与该待填充块大小相同的候选填充块;
从多个所述候选填充块中筛选剔除与所述待填充区域的灰度差异大于预设灰度差异阈值的候选填充块;
在筛选后的所述候选填充块中选取一与所述待填充块相似度最高的候选填充块作为最优填充块。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,从多个所述候选填充块中筛选剔除与所述待填充区域的灰度差异大于预设灰度差异阈值的候选填充块的步骤,包括:
计算所述待填充块中已有灰度值的像素点的平均像素灰度,及多个所述候选填充块中像素点的平均像素灰度;
计算多个所述候选填充块的平均像素灰度与所述待填充块的平均像素灰度之差的绝对值,并剔除所述绝对值大于一预设灰度差异阈值的候选填充块。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述候选填充块与所述待填充块相似度通过一空间加权灰度距离表征;所述在筛选后的所述候选填充块中选取一与所述待填充块相似度最高的候选填充块作为最优填充块的步骤,包括:
针对所述待填充区域中已有灰度值的每个像素点,计算所述像素点与所述候选填充块中位置对应的像素点的灰度差,获得所述待填充区域与所述候选填充块的灰度距离;
采用所述待填充区域与所述候选填充块中对应像素点的空间距离,对所述灰度距离进行加权计算,获得所述待填充区域与所述候选填充块的空间加权灰度距离,并将于所述待填充块的空间加权灰度距离最小的候选填充块作为所述最优填充块。
6.一种纹理图像补全装置,其特征在于,所述装置包括:
中心点选取模块,用于在灰度化的纹理图像上确定待填充区域,并在所述待填充区域上选取一填充中心点;
待填充块选取模块,用于基于所述填充中心点周围预设纹理检测范围内的图像纹理特征确定一待填充块;
筛选模块,用于基于该待填充块的大小在所述纹理图像中选取多个候选填充块,并基于该待填充块的平均像素灰度计算得到所述多个候选填充块与所述待填充块的相似度,选取一与该待填充块相似度最高的候选填充块作为最优填充块;
填充模块,用于使用所述最优填充块对该待填充块进行图像填充。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述纹理特征由所述填充中心点周围预设纹理检测范围内的像素平均梯度模值表征;所述待填充块选取模块包括:
梯度模值计算子模块,用于计算所述填充中心点周围预设纹理检测范围内的像素平均梯度模值;
选取子模块,用于基于所述像素平均梯度模值,以所述填充中心点为中心确定一待填充块的大小。
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