[发明专利]激光投影系统的光斑测量方法及装置

说明书

本发明实施例提供一种激光投影系统的光斑测量方法及装置，该方法包括：获取激光投影系统投影中数字微镜芯片DMD器件上测温试纸的试纸图像，测温试纸覆盖DMD器件的有效显示区域、消光区域和窗口光圈区域，测温试纸的变色温度小于激光投影系统的光斑的温度，变色温度与激光投影系统的光斑的温度之差小于预设阈值；在试纸图像中获取变色图像，变色图像为测温试纸中被激光投影系统的光斑照射而变色的部分对应的图像；获取预设标准图像，预设标准图像中包括有效显示区域边界线和消光区域边界线；将变色图像与预设标准图像进行匹配，以确定激光投影系统的光斑的测试结果。用于提高对激光投影系统的光斑的测量精确性。

技术领域

本发明实施例涉及激光技术领域，尤其涉及一种激光投影系统的光斑测量方法及装置。

背景技术

随着科学技术的不断提高，激光投影系统得到了广泛的应用，在激光投影系统中，光源光速穿过一系列的透镜之后，经过光学底架上的开口照射在数字微镜芯片(DigitalMicromirror Devices，简称DMD)上，DMD器件将接收到的光斑反射至镜头，以形成图像。

图1为现有技术提供的DMD器件的结构示意图，请参见图1，DMD器件包括有效显示区域、消光区域、窗口光圈区、环氧胶密封区等。有效显示区域可以对照射在有效显示区域的光斑进行反射，以在显示设备上显示图像。消光区域为黑色金属区域，用于减少对光线的反射。在实际应用过程中，当激光投影系统的光斑的尺寸小于有效显示区域的尺寸时，激光投影系统无法在显示设备上显示出来完整的图像，当激光投影系统的光斑的尺寸大于消光区域的尺寸时，不但会引起激光投影系统的溢光增加，还会导致光能量的浪费。因此，照射在DMD器件上的光斑是衡量激光投影系统质量的一个重要因素。

在现有技术中，当需要获取激光投影系统的光斑时，通常把激光投影系统的镜头部分去掉，由工作人员直接观察DMD器件上的光线的亮暗情况，并根据个人经验大致确认出光斑尺寸和形状。然而，通过该种方式确定得到的光斑的尺寸和形状的精确度较低，导致对激光投影系统的光斑的测量精确度较低。

发明内容

本发明实施例提供一种激光投影系统的光斑测量方法及装置，提高了对激光投影系统的光斑的测量精确性。

第一方面，本发明实施例提供一种激光投影系统的光斑测量方法，包括：

获取激光投影系统投影中数字微镜芯片DMD器件上测温试纸的试纸图像，所述测温试纸覆盖所述DMD器件的有效显示区域、消光区域和窗口光圈区域，所述测温试纸的变色温度小于所述激光投影系统的光斑的温度，所述变色温度与所述激光投影系统的光斑的温度之差小于预设阈值；

在所述试纸图像中获取变色图像，所述变色图像为所述测温试纸中被所述激光投影系统的光斑照射而变色的部分对应的图像；

获取预设标准图像，所述预设标准图像中包括有效显示区域边界线和消光区域边界线；

将所述变色图像与预设标准图像进行匹配，以确定所述激光投影系统的光斑的测试结果。

在一种实施方式中，在所述试纸图像中获取变色图像之前，还包括：

获取所述DMD器件的窗口光圈区域的长度与所述DMD器件的消光区域的长度的第一比值；

对所述试纸图像和/或所述预设标准图像进行缩放处理，以使所述试纸图像的长度与所述预设标准图像的长度的比值等于所述第一比值。

在另一种实施方式中，在所述试纸图像中获取变色图像，包括：

获取所述试纸图像的中心像素的灰度值，所述中心像素为位于所述试纸图像中心的像素；

根据所述中心像素的灰度值，在所述试纸图像中提取所述变色图像，其中，所述变色图像中各像素的灰度值与所述中心像素的灰度值的差值小于预设阈值。