[发明专利]激光投影系统的光斑测量方法及装置

说明书

本发明实施例提供一种激光投影系统的光斑测量方法及装置，该方法包括：获取激光投影系统投影在显示设备上的光斑图像，所述激光投影系统的DMD器件由测试器件替代；获取预设标准图像，所述预设标准图像中包括有效显示区域边界线和消光区域边界线；将所述光斑图像与所述有效显示区域边界线及所述消光区域边界线进行匹配，以确定所述光斑图像的测试结果。用于提高对激光投影系统的光斑的测量精确度。

技术领域

本发明实施例涉及激光技术领域，尤其涉及一种激光投影系统的光斑测量方法及装置。

背景技术

随着科学技术的不断提高，激光投影系统得到了广泛的应用，在激光投影系统中，光源光速穿过一系列的透镜之后，经过光学底架上的开口照射在数字微镜芯片(DigitalMicromirror Devices，简称DMD)上，DMD器件将接收到的光斑结合图像颜色数据形成的图像反射至镜头，投影到屏幕上显示出来。

图1为现有技术提供的DMD器件的结构示意图，请参见图1，DMD器件包括有效显示区域、消光区域、窗口光圈区、环氧胶密封区等。有效显示区域可以对照射在有效显示区域的光斑进行反射，以在显示设备上显示图像。消光区域为黑色金属区域，用于减少对光线的反射。在实际应用过程中，当激光投影系统的光斑的尺寸小于有效显示区域的尺寸时，激光投影系统无法在显示设备上显示出来完整的图像，当激光投影系统的光斑的尺寸大于消光区域的尺寸时，不但会引起激光投影系统的溢出光增加，还会导致光能量的浪费。因此，照射在DMD器件上的光斑是衡量激光投影系统质量的一个重要因素。

在现有技术中，当需要获取激光投影系统的光斑时，通常把激光投影系统的镜头部分去掉，由工作人员直接观察DMD器件上的光线的亮暗情况，并根据个人经验大致确认出光斑尺寸和形状。然而，通过该种方式确定得到的光斑的尺寸和形状的精确度较低，导致对激光投影系统的光斑的测量精确度较低。

发明内容

本发明实施例提供一种激光投影系统的光斑测量方法及装置，提高了对激光投影系统的光斑的测量精确度。

第一方面，本发明实施例提供一种激光投影系统的光斑测量方法，包括：

获取激光投影系统投影在显示设备上的光斑图像，所述激光投影系统的数字微镜芯片DMD器件由测试器件替代，所述测试器件的尺寸与所述DMD器件的尺寸相同，所述测试器件的基准面为粗糙度大于预设粗糙度的反射面，所述基准面上包括轮廓线，所述测试器件中的轮廓线与所述DMD器件中的有效显示区域的边界线对应设置；

获取预设标准图像，所述预设标准图像中包括有效显示区域边界线和消光区域边界线；

将所述光斑图像与所述预设标准图像进行匹配，以确定所述激光投影系统的光斑的测试结果。

在一种实施方式中，将所述光斑图像与所述有效显示区域边界线及所述消光区域边界线进行匹配，以确定所述激光投影系统的光斑的测试结果，包括：

判断所述光斑图像中是否包括所述基准面上的轮廓线；

若是，则对所述光斑图像进行等比例缩放处理，得到第一光斑图像，以使所述第一光斑图像中的轮廓线和所述预设标准图像中的有效显示区域边界线的尺寸相同，将所述第一光斑图像和所述预设标准图像叠加匹配，判断所述第一光斑图像的边缘是否在所述消光区域边界线之内，若是，则确定所述测试结果为正常，若否，则确定所述测试结果为异常；

若否，则确定所述测试结果为异常。

在另一种实施方式中，所述预设标准图像中包括方向标记点，所述基准面上的所述轮廓线内的区域中包括方向标记点，所述光斑图像中包括方向标记点；相应的，将所述光斑图像与所述有效显示区域边界线及所述消光区域边界线进行匹配之前，还包括：