[发明专利]一种无效像元在轨检测方法

说明书

本发明公开了一种无效像元在轨检测方法，包括：从自然目标中选择一个或多个作为类均匀源；在不同太阳高度角和不同积分时间下，分别对选定的一个或多个类均匀源所在的区域进行多次成像，得到多张遥感图像；对所述多张遥感图像中满足设定条件的遥感图像进行均一化处理，得到Num景均一化遥感图像；将所述Num景均一化遥感图像转换为矩阵向量表达式，根据所述矩阵向量表达式，判定得到实测无效像元；根据所述实测无效像元的位置和参考无效像元的位置，得到可变积分时间面阵CMOS在轨期间的无效像元位置集。通过本发明实现了对可见光近红外面阵COMS相机无效像元的在轨检测，确保了图像的成像质量。

技术领域

本发明属于图像处理技术领域，尤其涉及一种无效像元在轨检测方法。

背景技术

可见光近红外面阵CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor，互补金属氧化物半导体)相机拥有上万个像元，可以直接获取像素阵列式的目标反射太阳光能量的数字图像，但是由于工艺的限制，面阵COMS相机存在一个不可回避的问题，即无效像元的存在，无效像元在CMOS相机中主要表现为响应过低和响应过高的像元。无效像元的存在严重影响图像成像的质量，在成像时如果不加以考虑(补偿)，就会在图像中出现无法反映目标真实特性的暗点和亮点。

在航天领域，卫星在发射前，可以通过实验方式确定面阵COMS相机中无效像元的位置：实验室通过积分球均匀光源给出面阵COMS相机无效像元的位置。但是由于卫星在发射过程中以及在发射后空间环境变化和元器件老化等因素，会出现实验室未检测到的新的无效像元，而对于新的无效像元，通过现有方案无法进行检测，进而也无法对所述新的无效像元进行补偿，影响图像成像的质量。

发明内容

本发明的技术解决问题：克服现有技术的不足，提供一种无效像元在轨检测方法，旨在实现对可见光近红外面阵COMS相机无效像元的在轨检测，确保图像的成像质量。

为了解决上述技术问题，本发明公开了一种无效像元在轨检测方法，包括：

从自然目标中选择一个或多个作为类均匀源；

在不同太阳高度角和不同积分时间下，分别对选定的一个或多个类均匀源所在的区域进行多次成像，得到多张遥感图像；

对所述多张遥感图像中满足设定条件的遥感图像进行均一化处理，得到 Num景均一化遥感图像；

将所述Num景均一化遥感图像转换为矩阵向量表达式，根据所述矩阵向量表达式，判定得到实测无效像元；

根据所述实测无效像元的位置和参考无效像元的位置，得到可变积分时间面阵CMOS在轨期间的无效像元位置集。

在所述无效像元在轨检测方法中，作为类均匀源的自然目标满足如下条件：

自然目标的面积大于面阵CMOS相机的幅宽；

自然目标的均匀性优于3％。

在所述无效像元在轨检测方法中，所述在不同太阳高度角和不同积分时间下，分别对选定的一个或多个类均匀源所在的区域进行多次成像，得到多张遥感图像，包括：

根据遥感卫星的轨道预报，通过面阵CMOS相机对选定的一个或多个类均匀源所在的区域，在不同太阳高度角和不同积分时间下进行多次成像，得到多张遥感图像。

在所述无效像元在轨检测方法中，所述对所述多张遥感图像中满足设定条件的遥感图像进行均一化处理，得到Num景均一化遥感图像，包括：

从所述多张遥感图像中筛选得到满足设定条件的待处理遥感图像；

对所述待处理遥感图像进行均一化处理，得到所述Num景均一化遥感图像。