[发明专利]MIMO无线终端的无线性能测试方法有效

专利信息
申请号: 201611154847.0 申请日: 2016-12-14
公开(公告)号: CN108234036B 公开(公告)日: 2020-05-12
发明(设计)人: 漆一宏;沈鹏辉 申请(专利权)人: 深圳市通用测试系统有限公司
主分类号: H04B17/12 分类号: H04B17/12;H04B17/15;H04B17/21;H04B17/29
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 张润
地址: 518102 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: mimo 无线 终端 性能 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种MIMO无线终端的无线性能测试方法,其特征在于,被测MIMO无线终端具有多个天线,所述被测MIMO无线终端放置于微波暗室中,所述方法包括以下步骤:

A、获得所述被测MIMO无线终端的多个天线的天线方向图信息;

B、根据所述被测MIMO无线终端的天线方向图信息获得测试信号;

C、使用所述被测MIMO无线终端的误差校准联合矩阵对所述测试信号进行校准,获得测试用发射信号;其中,所述误差校准联合矩阵是根据所述被测MIMO无线终端的幅度和相位差回报系统的回报信息确定的,其中,所述误差校准联合矩阵EA为误差矩阵E与校准矩阵A的乘积,误差矩阵E由接收天线的测试误差组成,所述测试误差由所述幅度和相位差回报系统引入;所述校准矩阵A由校准矩阵的因子aij组成,aij为第j个发射天线的输入端口到第i个接收天线的输出端口的路径复增益信息;

D、将所述测试用发射信号馈入至微波暗室的多个测量天线之中,并通过所述测量天线向所述无线终端发射以对所述无线终端进行测试。

2.根据权利要求1所述的无线性能测试方法,其特征在于,所述误差校准联合矩阵EA为误差矩阵E与校准矩阵A的乘积;

其中,误差矩阵E为为第u(u≥1)个接收天线的测试误差,所述测试误差由所述幅度和相位差回报系统引入,Eu为幅度测量误差,为相位测量误差;

校准矩阵A为校准矩阵的因子aij为第j个发射天线的输入端口到第i个接收天线的输出端口的路径复增益信息。

3.根据权利要求2所述的无线性能测试方法,其特征在于,所述误差校准联合矩阵的因子为

其中,满足如下关系:

Pemj为第j个发射天线所发送信号的发射功率,RSij为第i接收天线的输出端口收到的功率和相位回报值。

4.根据权利要求1所述的无线性能测试方法,其特征在于,所述根据所述被测MIMO无线终端的天线方向图信息获得测试信号,包括:

根据所述被测MIMO无线终端的天线方向图信息与预先设定的MIMO信号传播模型融合,生成所述测试信号。

5.根据权利要求1所述的无线性能测试方法,其特征在于,

所述天线方向图信息包括各个方向上的增益信息,和/或任意两个天线之间,各个方向上接收同一信息的相位差信息。

6.根据权利要求1所述的无线性能测试方法,其特征在于,

所述微波暗室的测量天线的个数大于或等于所述无线终端的天线的个数。

7.根据权利要求1所述的无线性能测试方法,其特征在于,

测试步骤D的过程中,测量天线和被测无线终端保持静止状态。

8.根据权利要求1所述的无线性能测试方法,其特征在于,所述测试为吞吐率测试。

9.根据权利要求1所述的无线性能测试方法,其特征在于,所述获得所述被测MIMO无线终端的多个天线的天线方向图信息,包括:

在微波暗室中测得被测MIMO无线终端的多个天线的天线方向图信息;所述步骤A及所述步骤D中所使用的微波暗室相同为同一个。

10.根据权利要求1所述的无线性能测试方法,其特征在于,

所述多个测量天线之中一部分测量天线为水平极化天线,所述多个测量天线中另一部分测量天线为垂直极化天线。

11.根据权利要求1-3任一项所述的无线性能测试方法,其特征在于,测量天线数量是2,被测MIMO无线终端的接收天线数量是2;

误差校准联合矩阵

其中,EA11=RS11/Pem1,EA21=RS21/Pem1,EA12=RS12/Pem2,EA22=RS22/Pem2

RS11为第一个测量天线以发射功率Pem1发射信号EM1时,第一个接收天线的输出端口收到的功率和相位的回报值;

RS21为第一个测量天线以发射功率Pem1发射信号EM1时,第二个接收天线的输出端口收到的功率和相位的回报值;

RS12为第二个测量天线以发射功率Pem2发射信号EM2时,第一个接收天线的输出端口收到的功率和相位的回报值;

RS22为第二个测量天线以发射功率Pem2发射信号EM2时,第二个接收天线的输出端口收到的功率和相位的回报值。

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