[发明专利]图像传感器结构及其制作方法有效
申请号: | 201611157013.5 | 申请日: | 2016-12-15 |
公开(公告)号: | CN106783902B | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
发明(设计)人: | 胡少坚;耿阳;陈寿面 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 王仙子<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 201210 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像传感器 结构 及其 制作方法 | ||
1.一种图像传感器结构,其特征在于,所述图像传感器结构包括:
衬底,所述衬底上设置有接触电极,且所述接触电极仅设置在所述衬底上;
背栅,所述背栅设置在所述衬底上;
栅氧介质层,所述栅氧介质层覆盖在所述背栅上;
量子点层,所述量子点层设置在所述栅氧介质层上,所述量子点层与所述接触电极连接;
工作时在所述背栅上加不同的电压,用于调控光电效应的灵敏度。
2.根据权利要求1所述的图像传感器结构,其特征在于,所述图像传感器结构还包括信号器件,所述信号器件设置在所述衬底中,所述信号器件连接所述接触电极或所述背栅,所述信号器件包含晶体管和/或电容。
3.根据权利要求1所述的图像传感器结构,其特征在于,所述接触电极的材料包括功函数大于4.8eV的高功函数材料和功函数小于4.4eV的低功函数材料,所述高功函数材料包括金、钨、铜、氧化铟锡、氟化氧化锡或氮化钛中一种及其组合,所述低功函数材料包括铝、镁或氮化钽中一种及其组合。
4.根据权利要求1所述的图像传感器结构,其特征在于,所述背栅的材料为氮化钛、金、铝或氮化钽中一种及其组合,所述栅氧介质层的材料为二氧化硅、氧化铝、氮化硅、氧化锆或氧化铪中一种及其组合。
5.根据权利要求1所述的图像传感器结构,其特征在于,所述接触电极的厚度为50nm~500nm,所述背栅的厚度为100nm~500nm,所述栅氧介质层的厚度为50nm~200nm,所述量子点层的厚度为100nm~500nm。
6.根据权利要求1至5中任意一项所述的图像传感器结构,其特征在于,所述量子点层上还设有保护层,所述保护层的材料为二氧化硅或氮化硅,所述保护层的厚度为100nm~500nm。
7.一种图像传感器结构的制作方法,其特征在于,所述图像传感器结构的制作方法包括:
提供衬底,在所述衬底中形成信号器件以及与所述信号器件连接的若干导线;
在所述衬底上形成接触电极,所述接触电极连接导线以连接所述信号器件,且所述接触电极仅设置在所述衬底上;
在所述衬底上形成背栅层,所述背栅连接导线以连接所述信号器件,工作时在所述背栅上加不同的电压,用于调控光电效应的灵敏度;
在所述衬底上形成栅氧介质层,光刻所述栅氧介质层形成通孔;
在所述栅氧介质层上形成量子点层,所述量子点层通过所述通孔连接所述接触电极。
8.根据权利要求7所述的图像传感器结构的制作方法,其特征在于,在形成量子点层之后还包括:在所述量子点层上形成保护层。
9.根据权利要求7所述的图像传感器结构的制作方法,其特征在于,
所述接触电极形成方法包括:
在衬底上形成接触电极层,在接触电极层上涂覆光刻胶,并形成图案,通过该图案刻蚀接触电极层;或者,
在衬底上沉积光刻胶,并形成图案,通过该图案沉积接触电极,
所述背栅形成方法包括:
在衬底上形成背栅层,在背栅层上涂覆光刻胶,并形成图案,通过该图案刻蚀背栅层;或者,
在衬底上沉积光刻胶,并形成图案,通过该图案沉积背栅。
10.根据权利要求7所述的图像传感器结构的制作方法,其特征在于,所述量子点层形成后还包括对所述量子点层进行坚膜烘烤,所述坚膜烘烤的温度为50℃~250℃。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的