[发明专利]图像传感器结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201611157013.5 申请日: 2016-12-15
公开(公告)号: CN106783902B 公开(公告)日: 2019-11-22
发明(设计)人: 胡少坚;耿阳;陈寿面 申请(专利权)人: 上海集成电路研发中心有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 王仙子<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 201210 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 图像传感器 结构 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种图像传感器结构,其特征在于,所述图像传感器结构包括:

衬底,所述衬底上设置有接触电极,且所述接触电极仅设置在所述衬底上;

背栅,所述背栅设置在所述衬底上;

栅氧介质层,所述栅氧介质层覆盖在所述背栅上;

量子点层,所述量子点层设置在所述栅氧介质层上,所述量子点层与所述接触电极连接;

工作时在所述背栅上加不同的电压,用于调控光电效应的灵敏度。

2.根据权利要求1所述的图像传感器结构,其特征在于,所述图像传感器结构还包括信号器件,所述信号器件设置在所述衬底中,所述信号器件连接所述接触电极或所述背栅,所述信号器件包含晶体管和/或电容。

3.根据权利要求1所述的图像传感器结构,其特征在于,所述接触电极的材料包括功函数大于4.8eV的高功函数材料和功函数小于4.4eV的低功函数材料,所述高功函数材料包括金、钨、铜、氧化铟锡、氟化氧化锡或氮化钛中一种及其组合,所述低功函数材料包括铝、镁或氮化钽中一种及其组合。

4.根据权利要求1所述的图像传感器结构,其特征在于,所述背栅的材料为氮化钛、金、铝或氮化钽中一种及其组合,所述栅氧介质层的材料为二氧化硅、氧化铝、氮化硅、氧化锆或氧化铪中一种及其组合。

5.根据权利要求1所述的图像传感器结构,其特征在于,所述接触电极的厚度为50nm~500nm,所述背栅的厚度为100nm~500nm,所述栅氧介质层的厚度为50nm~200nm,所述量子点层的厚度为100nm~500nm。

6.根据权利要求1至5中任意一项所述的图像传感器结构,其特征在于,所述量子点层上还设有保护层,所述保护层的材料为二氧化硅或氮化硅,所述保护层的厚度为100nm~500nm。

7.一种图像传感器结构的制作方法,其特征在于,所述图像传感器结构的制作方法包括:

提供衬底,在所述衬底中形成信号器件以及与所述信号器件连接的若干导线;

在所述衬底上形成接触电极,所述接触电极连接导线以连接所述信号器件,且所述接触电极仅设置在所述衬底上;

在所述衬底上形成背栅层,所述背栅连接导线以连接所述信号器件,工作时在所述背栅上加不同的电压,用于调控光电效应的灵敏度;

在所述衬底上形成栅氧介质层,光刻所述栅氧介质层形成通孔;

在所述栅氧介质层上形成量子点层,所述量子点层通过所述通孔连接所述接触电极。

8.根据权利要求7所述的图像传感器结构的制作方法,其特征在于,在形成量子点层之后还包括:在所述量子点层上形成保护层。

9.根据权利要求7所述的图像传感器结构的制作方法,其特征在于,

所述接触电极形成方法包括:

在衬底上形成接触电极层,在接触电极层上涂覆光刻胶,并形成图案,通过该图案刻蚀接触电极层;或者,

在衬底上沉积光刻胶,并形成图案,通过该图案沉积接触电极,

所述背栅形成方法包括:

在衬底上形成背栅层,在背栅层上涂覆光刻胶,并形成图案,通过该图案刻蚀背栅层;或者,

在衬底上沉积光刻胶,并形成图案,通过该图案沉积背栅。

10.根据权利要求7所述的图像传感器结构的制作方法,其特征在于,所述量子点层形成后还包括对所述量子点层进行坚膜烘烤,所述坚膜烘烤的温度为50℃~250℃。

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