[发明专利]一种微控制器芯片中的调试单元

说明书

技术领域

本发明涉及一种调试单元，具体是一种微控制器芯片中的调试单元。

背景技术

MCU调试器是用户在开发基于MCU芯片的应用程序的时候，用来调试应用程序的工具。MCU调试器使程序能够根据用户的意愿来运行，如单步运行，全速运行，或者在指定的某行指令暂停运行（断点）。也可以通过调试器来查看MCU芯片在运行时的相关信息，比如查看堆栈、程序指针、累加器、状态寄存器、SRAM存储空间或者其它特殊功能寄存器等。

发明内容

本发明的目的在于提供一种微控制器芯片中的调试单元，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种微控制器芯片中的调试单元，微控制器芯片内部包括IO控制单元IO_CTRL、串行通信调试接口模块SC_INTF、调试模式控制模块DEBUG_CTRL、程序存储器PMEM以及微控制器内核MCU_CORE，微控制器芯片通过串行通信调试接口模块SC_INTF与芯片外部进行串行通信，串行通信调试接口模块SC_INTF内部包括串行接收单元RXC以及串行发送单元TXC，串行接收单元RXC负责完成串行通信调试的接收过程，串行发送单元RXC负责完成串行通信调试的发送过程，串行通信调试接口模块SC_INTF与芯片外部上位机通过调试通信数据端口DDA进行串行通信，当调试通信数据端口DDA为输入状态时，IO控制单元IO_CTRL通过接收数据信号rxd将芯片外部的数据传送至串行接收单元RXC进行处理，当微控制器芯片需要传送数据至芯片外部的上位机时，调试通信数据端口DDA为输出状态，串行发送单元TXC通过发送数据信号txd将数据传送至IO控制单元IO_CTRL。

作为本发明再进一步的方案：所述调试通信数据端口DDA是一个双向端口。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明采用串行通信调试接口只需要1个双向端口即可以完成微控制器芯片与芯片外部上位机的通信，实现上位机对微控制器芯片的调试。本方案与需要2个端口进行通信的普通调试方案相比，节省了1个端口，从而节省芯片的生产成本。本方案中采用的串行通信调试接口中物理层协议定义的通信起始位、通信结束位、比特0、比特1、字节分界位的相互之间的差异较大，即使在工作时钟频率存在较大偏差的情况下，依然能够保证数据的正常通信。调试方案中实现上位机对微控制器芯片内部数据存储器空间或者特殊功能寄存器的读写时，无需增加过多的逻辑资源，而是使用替代程序存储器指令码的方式，利用微控制器芯片内核的逻辑资源即可以实现，从而节省芯片的面积、节约生产成本。

附图说明

图1为本发明中微控制器芯片的原理框图。

图2为本发明中串行通信调试接口数据格式。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

请参阅图1～2，本发明实施例中，一种微控制器芯片中的调试单元，微控制器芯片包括IO控制单元IO_CTRL、串行通信调试接口模块SC_INTF、调试模式控制模块DEBUG_CTRL、程序存储器PMEM以及微控制器内核MCU_CORE。