[发明专利]诊断系统、集成电路设计布局及物理集成电路实施的方法

权利要求书

1.一种诊断系统，包括：

位置提取器，被设置成在生成集成电路(IC)设计布局时，根据标注设计布局中的至少一个部件的至少一个标记文本，提取所述集成电路(IC)设计布局的所述设计布局中的至少一个部件的至少坐标，其中，所述设计布局的所述至少一个部件的所述至少一个标记文本是预先设置的，在提取所述至少坐标之前，将所述设计布局放置在所述集成电路(IC)设计布局的预定位置，所述至少一个标记文本标记所述至少一个部件的所述至少坐标；

文件生成器，被设置成根据所述至少坐标生成所述集成电路设计布局的格式文件；以及

芯片诊断工具，被设置成扫描物理集成电路中的物理电路，以根据所述格式文件确定所述物理电路中的缺陷部件；

其中，所述物理电路对应于所述设计布局，并且所述物理集成电路对应于所述集成电路设计布局。

2.根据权利要求1所述的诊断系统，其中，所述格式文件为设计交换格式(DEF)文件。

3.根据权利要求1所述的诊断系统，其中，所述芯片诊断工具进一步检测所述物理集成电路，以确定所述物理电路是否具有预定功能，如果所述物理电路的所述预定功能失效，则所述芯片诊断工具扫描所述物理电路，以根据所述格式文件确定所述物理电路中的缺陷部件。

4.根据权利要求3所述的诊断系统，其中，所述芯片诊断工具进一步根据所述格式文件确定所述物理电路中的所述缺陷部件的坐标。

5.根据权利要求1所述的诊断系统，其中，所述至少一个部件为至少一个被设计用于所述物理电路的检测的扫描部件。

6.根据权利要求5所述的诊断系统，其中，所述至少一个扫描部件包括多个扫描部件，并且所述芯片诊断工具按预定扫描顺序扫描所述物理电路中的所述多个扫描部件，以根据所述格式文件确定所述物理电路中的所述缺陷部件。

7.一种基于集成电路(IC)设计布局实施的方法，所述方法包括：

在生成所述集成电路(IC)设计布局时，将设计布局放置到所述集成电路设计布局的预定位置上，其中，所述设计布局包括预先设置的标注所述设计布局的至少一个部件的至少一个标记文本；在放置所述设计布局后，所述至少一个标记文本标记所述至少一个部件在所述集成电路设计布局中的至少一个坐标；以及

根据所述至少一个部件坐标生成对应于所述集成电路设计布局的格式文件。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述格式文件为由芯片诊断工具识别的设计交换格式(DEF)文件。

9.根据权利要求7所述的方法，其中，所述至少一个部件为至少一个被设计用于所述设计布局的检测的扫描部件。

10.根据权利要求7所述的方法，还包括：

提供对应于所述设计布局的图形数据库系统(GDS)文件；

其中，所述至少一个标记文本包括在所述GDS文件中。

11.根据权利要求7所述的方法，其中，根据所述至少一个部件坐标生成对应于所述集成电路设计布局的所述格式文件包括：

根据所述至少一个部件坐标和所述至少一个部件的至少一个功能信息，生成对应于所述集成电路设计布局的所述格式文件。

12.根据权利要求7所述的方法，其中，所述至少一个标记文本包括多个标记文本，所述至少一个部件包括多个部件，所述至少一个坐标包括多个坐标，并且所述多个标记文本分别标注所述多个部件，并且所述方法还包括：

对所述多个部件的所述多个坐标分类，以根据所述多个部件的预定扫描顺序生成多个分类坐标。

13.根据权利要求12所述的方法，其中，根据所述至少一个部件坐标生成对应于所述集成电路设计布局的所述格式文件包括：

根据所述多个分类坐标，生成对应于所述集成电路设计布局的所述格式文件。