[发明专利]致密储层微观孔隙结构的表征方法

权利要求书

1.致密储层微观孔隙结构的表征方法，其特征在于，该致密储层微观孔隙结构的表征方法包括：

步骤1，进行压汞实验数据处理；

步骤2，利用处理后的数据，绘制喉道半径与区间汞饱和度频率的直方图；

步骤3，根据喉道半径与区间汞饱和度频率直方图，选取主峰峰值半径R_f；

步骤4，进行压汞数据截取处理；

步骤5，计算喉道与孔隙配置系数，利用压汞实验特征数据，求取喉道半径与对应区间汞饱和度乘积之和，作为喉道与孔隙的配置系数；

在步骤1中，基于岩心室内压汞实验得到的原始数据，得出每个喉道半径对应的区间汞饱和度：

ΔSg_i＝Sg_i-Sg_i-1

式中：ΔSg_i为区间汞饱和度，％；Sg_i为i数据点对应的累计汞饱和度，％；Sg_i-1为i-1数据点对应的累计汞饱和度，％，Sg₀＝0；

从而计算区间汞饱和度频率：

式中：P_Sgi为区间汞饱和度频率，％；ΔSg_i为区间汞饱和度，％；Sg为累计汞饱和度，％；

在步骤2中，根据步骤1中得到的压汞实验处理数据，绘制以喉道半径为横坐标，以与之对应的区间汞饱和度频率为纵坐标的频率直方图；

在步骤3中，根据步骤2绘制的频率直方图特征，选取主峰峰值对应的喉道半径，作为主峰峰值半径R_f，表征与孔隙连通最好的喉道半径的大小；

在步骤4中，在步骤1得到的处理数据基础上，以区间汞饱和度频率1％为截断值，舍弃区间汞饱和度频率小于1％的数据点，得到代表微观孔隙结构特征的特征数据，以消除统计过程中小概率数据对统计结果的影响，降低对微观孔隙结构特征的错误判断；

在步骤5中，利用步骤4得到的特征数据，计算致密储层微观孔隙结构喉道与孔隙配置关系系数：

式中：P_Z为喉道与孔隙配置系数，μm％；r_i为喉道半径，μm；ΔSg_i为区间汞饱和度，％。