[发明专利]风洞试验模型绕流密度投影场的视频测量方法有效

专利信息
申请号: 201611165854.0 申请日: 2016-12-16
公开(公告)号: CN106596037B 公开(公告)日: 2018-10-02
发明(设计)人: 周润;张征宇;黄叙辉;李平;唐亮;范金磊 申请(专利权)人: 中国空气动力研究与发展中心高速空气动力研究所
主分类号: G01M9/06 分类号: G01M9/06
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 邓世燕
地址: 621000 四川省绵*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 风洞试验 模型 密度 投影 视频 测量方法
【权利要求书】:

1.一种风洞试验模型绕流密度投影场的视频测量方法,其特征在于:包括如下步骤:

步骤一、在风洞试验的试验现场搭建光路,其中:相机的光轴与风洞坐标系的z轴平行,背景板与风洞坐标系的z轴垂直,在背景板上布置行列相间的圆形标记点;测量背景板到风洞试验段中心平面间的距离ZD,测量背景板上至少3个圆形标记点在风洞坐标系下的坐标值;

步骤二、利用背景板上圆形标记点在风洞坐标系中的已知坐标值,标定相机的位置参数(Xs,Ys,Zs)与姿态参数(φ,ω,κ),及相机的内参数,计算背景板到摄影中心之间的距离ZB=|ZS|+ZD

步骤三、在无扰动流场时,用相机拍摄背景板的图像作为参考图像,在有扰动流场时,使用相机拍摄背景板的时序图像;

步骤四、计算t时刻有扰动流场时,从背景板上给定标记点A出发到摄影中心的光束穿过扰动流场时的偏折位移△X(i,j)和△Y(i,j)、偏折角和

步骤五、计算t时刻扰动流场内E点的密度投影:

设摄影中心O、背景板上标记点A的连线与扰动流场中心平面的交点为E;

1)按如下公式计算E点参考密度ρref

式中,R为气体常数,p0为风洞试验的总压,Ma为风洞试验的马赫数,T0为风洞试验的总温;

2)按如下公式计算E点参考折射率nref

nref=1+KGDρref

式中,KGD为常数;

3)计算未知数a、b:

式中,L为风洞试验段在z方向的边长,

4)计算E点的折射率投影nE、密度投影ρE

ρE=(nE-1)/KGD

2.根据权利要求1所述的风洞试验模型绕流密度投影场的视频测量方法,其特征在于:所述圆形标记点为黑底白圆。

3.根据权利要求1所述的风洞试验模型绕流密度投影场的视频测量方法,其特征在于:所述背景板到摄影中心的距离ZB大于背景板最小外接矩形的对角线长度。

4.根据权利要求1所述的风洞试验模型绕流密度投影场的视频测量方法,其特征在于:所述从给定标记点A出发到摄影中心的光束穿过扰动流场时的偏折角小于10度。

5.根据权利要求4所述的风洞试验模型绕流密度投影场的视频测量方法,其特征在于:所述偏折位移和偏折角的计算方法为:

将标记点A在无扰动流场时在相机CCD上的像点记为B,t时刻有扰动流场时的像点记为B',B'与摄影中心O的连线与背景板的交点记为A';

1)设A为背景板上第i行、第j列的标记圆点,利用共线方程计算A在风洞坐标系下的x、y坐标值,记为X(i,j)、Y(i,j)A'在风洞坐标系下的x、y坐标值,记为X(i,j)'、Y(i,j)'

2)标记点A在x、y方向的偏折位移△X(i,j)、△Y(i,j)的计算方法为:

△X(i,j)=X(i,j)'-X(i,j)

△Y(i,j)=Y(i,j)'-Y(i,j)

3)从标记点A出发到摄影中心的光束穿过扰动流场时的偏折角的计算方法为:

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