[发明专利]风洞试验模型绕流密度投影场的视频测量方法有效
申请号: | 201611165854.0 | 申请日: | 2016-12-16 |
公开(公告)号: | CN106596037B | 公开(公告)日: | 2018-10-02 |
发明(设计)人: | 周润;张征宇;黄叙辉;李平;唐亮;范金磊 | 申请(专利权)人: | 中国空气动力研究与发展中心高速空气动力研究所 |
主分类号: | G01M9/06 | 分类号: | G01M9/06 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 邓世燕 |
地址: | 621000 四川省绵*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 风洞试验 模型 密度 投影 视频 测量方法 | ||
1.一种风洞试验模型绕流密度投影场的视频测量方法,其特征在于:包括如下步骤:
步骤一、在风洞试验的试验现场搭建光路,其中:相机的光轴与风洞坐标系的z轴平行,背景板与风洞坐标系的z轴垂直,在背景板上布置行列相间的圆形标记点;测量背景板到风洞试验段中心平面间的距离ZD,测量背景板上至少3个圆形标记点在风洞坐标系下的坐标值;
步骤二、利用背景板上圆形标记点在风洞坐标系中的已知坐标值,标定相机的位置参数(Xs,Ys,Zs)与姿态参数(φ,ω,κ),及相机的内参数,计算背景板到摄影中心之间的距离ZB=|ZS|+ZD;
步骤三、在无扰动流场时,用相机拍摄背景板的图像作为参考图像,在有扰动流场时,使用相机拍摄背景板的时序图像;
步骤四、计算t时刻有扰动流场时,从背景板上给定标记点A出发到摄影中心的光束穿过扰动流场时的偏折位移△X(i,j)和△Y(i,j)、偏折角和
步骤五、计算t时刻扰动流场内E点的密度投影:
设摄影中心O、背景板上标记点A的连线与扰动流场中心平面的交点为E;
1)按如下公式计算E点参考密度ρref:
式中,R为气体常数,p0为风洞试验的总压,Ma为风洞试验的马赫数,T0为风洞试验的总温;
2)按如下公式计算E点参考折射率nref:
nref=1+KGDρref
式中,KGD为常数;
3)计算未知数a、b:
式中,L为风洞试验段在z方向的边长,
4)计算E点的折射率投影nE、密度投影ρE:
ρE=(nE-1)/KGD。
2.根据权利要求1所述的风洞试验模型绕流密度投影场的视频测量方法,其特征在于:所述圆形标记点为黑底白圆。
3.根据权利要求1所述的风洞试验模型绕流密度投影场的视频测量方法,其特征在于:所述背景板到摄影中心的距离ZB大于背景板最小外接矩形的对角线长度。
4.根据权利要求1所述的风洞试验模型绕流密度投影场的视频测量方法,其特征在于:所述从给定标记点A出发到摄影中心的光束穿过扰动流场时的偏折角小于10度。
5.根据权利要求4所述的风洞试验模型绕流密度投影场的视频测量方法,其特征在于:所述偏折位移和偏折角的计算方法为:
将标记点A在无扰动流场时在相机CCD上的像点记为B,t时刻有扰动流场时的像点记为B',B'与摄影中心O的连线与背景板的交点记为A';
1)设A为背景板上第i行、第j列的标记圆点,利用共线方程计算A在风洞坐标系下的x、y坐标值,记为X(i,j)、Y(i,j);A'在风洞坐标系下的x、y坐标值,记为X(i,j)'、Y(i,j)';
2)标记点A在x、y方向的偏折位移△X(i,j)、△Y(i,j)的计算方法为:
△X(i,j)=X(i,j)'-X(i,j);
△Y(i,j)=Y(i,j)'-Y(i,j);
3)从标记点A出发到摄影中心的光束穿过扰动流场时的偏折角的计算方法为:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国空气动力研究与发展中心高速空气动力研究所,未经中国空气动力研究与发展中心高速空气动力研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611165854.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。