[发明专利]用于构件的定位系统及方法有效
| 申请号： | 201611167111.7 | 申请日： | 2016-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN106969734B | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | Y.E.奥斯特克;S.H.伊奇利;M.于瓦拉克利奥卢;B.J.杰曼;J.L.伯恩塞德 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 严志军;傅永霄 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 构件 定位 系统 方法 | ||
1.一种用于构件(10)的定位方法(200)，所述构件(10)具有外表面(11)，所述方法(200)包括：
通过分析所述构件的图像(212)以获得关于所述构件的表面特征(30)的X轴线数据点(214)和关于所述构件的表面特征(30)的Y轴线数据点(216)来沿X轴线(50)和Y轴线(52)定位配置在所述外表面(11)上的所述表面特征(30)；
沿Z轴线(54)直接地测量所述表面特征(30)，以获得所述表面特征(30)的Z轴线数据点(222)，其中所述X轴线(50)、所述Y轴线(52)和所述Z轴线(54)相互正交；
基于关于所述构件的所述表面特征的X轴线数据点和直接测量的Z轴线数据点计算所述表面特征的纵倾角；并且
基于关于所述构件的所述表面特征的Y轴线数据点和直接测量的Z轴线数据点计算所述表面特征的侧倾角。
2.根据权利要求1所述的方法(200)，其特征在于，所述表面特征(30)使用非接触直接测量技术来直接地测量。
3.根据权利要求1所述的方法(200)，其特征在于，直接测量步骤包括：
朝所述表面特征(30)发射光(124)；
在所述光(124)反射之后探测所述光(124)；以及
基于探测的光(124)来计算所述Z轴线数据点(222)。
4.根据权利要求1所述的方法(200)，其特征在于，分析所述图像(212)包括执行所述图像(212)的像素(219)分析。
5.根据权利要求1所述的方法(200)，其特征在于，所述表面特征(30)为应变传感器(40)。
6.根据权利要求1所述的方法(200)，其特征在于，所述表面特征(30)为冷却孔(35)。
7.一种用于构件(10)的定位系统(100)，所述构件(10)具有外表面(11)，所述系统(100)包括：
数据采集系统(100)，所述数据采集系统(100)包括：
用于获得所述构件(10)的图像(212)的成像装置(106)；以及
用于检查配置在所述构件(10)的所述外表面(11)上的表面特征(30)的三维数据采集装置(108)；以及
与所述数据采集系统(102)可操作通信的处理器(104)，所述处理器(104)配置成用于：
通过分析所述图像以获得所述表面特征(30)的X轴线数据点(214)和Y轴线数据点(216)来沿X轴线(50)和Y轴线(52)定位所述表面特征(30)；
基于来自所述三维数据采集装置(108)的信号获得所述表面特征(30)的沿Z轴线(54)的Z轴线数据点(222)，其中所述X轴线(50)、所述Y轴线(52)和所述Z轴线(54)相互正交；以及
基于由分析所述图像获得的X轴线数据点和来自所述三维数据采集装置获得的Z轴线数据点计算所述表面特征的纵倾角；并且
基于由分析所述图像获得的Y轴线数据点和来自所述三维数据采集装置获得的Z轴线数据点计算所述表面特征的侧倾角。
8.根据权利要求7所述的系统(100)，其特征在于，所述三维数据采集装置(108)为非接触三维数据采集装置(108)。
9.根据权利要求7所述的系统(100)，其特征在于，分析所述图像(212)包括执行所述图像(212)的像素(218)分析。
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