[发明专利]一种测量硅基液晶相位分辨率的装置及方法有效
申请号: | 201611169913.1 | 申请日: | 2016-12-16 |
公开(公告)号: | CN106405901B | 公开(公告)日: | 2019-05-24 |
发明(设计)人: | 谢德权;徐凤;刘子晨;尤全;杨奇;余少华 | 申请(专利权)人: | 武汉邮电科学研究院 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙) 11221 | 代理人: | 王卫东 |
地址: | 430074 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 液晶 相位 分辨率 装置 方法 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉邮电科学研究院,未经武汉邮电科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611169913.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种液晶屏色彩测量的方法和装置
- 下一篇:显示设备