[发明专利]用于PTC芯体测温的治具

说明书

本发明公开了一种用于PTC芯体测温的治具，所述用于PTC芯体测温的治具包括：绝缘定位组件，所述绝缘定位组件上具有间隔布置的多个芯体定位槽，所述芯体定位槽适于放置PTC芯体；正极测试组件，所述正极测试组件设在所述绝缘定位组件上，所述正极测试组件包括多个正极探测部；负极测试组件，所述负极测试组件设在所述绝缘定位组件上，所述负极测试组件与所述正极测试组件相互电隔离，所述负极测试组件包括多个负极探测部，其中，所述负极探测部和所述正极探测部关于所述芯体定位槽相对分别用于连接放置于所述芯体定位槽内的PTC芯体的正极和负极。根据本发明的用于PTC芯体测温的治具，可实现同时测试多个PTC芯体，提升了PTC芯体的测试效率。

技术领域

本发明涉及芯体检测技术领域，尤其是涉及一种用于PTC芯体测温的治具。

背景技术

相关技术中的测温治具夹持1片PTC(Positive Temperature Coefficient，正温度系数)芯体，对治具引出裸露在外的电源正负极进行通电测试，测温产品数量只能是1个，且测温时正负极裸露在外极易发生电击。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明在于提出一种用于PTC芯体测温的治具，所述用于PTC芯体测温的治具可以同时测试多个PTC芯体，提升了测试效率。

根据本发明的用于PTC芯体测温的治具，包括：绝缘定位组件，所述绝缘定位组件上具有间隔布置的多个芯体定位槽，所述芯体定位槽适于放置PTC芯体；正极测试组件，所述正极测试组件设在所述绝缘定位组件上，所述正极测试组件包括多个正极探测部；负极测试组件，所述负极测试组件设在所述绝缘定位组件上，所述负极测试组件与所述正极测试组件相互电隔离，所述负极测试组件包括多个负极探测部；其中，所述负极探测部和所述正极探测部关于所述芯体定位槽相对，且分别用于连接放置于所述芯体定位槽内的PTC芯体的正极和负极。

根据本发明的用于PTC芯体测温的治具，可实现同时测试多个PTC芯体，提升了PTC芯体的测试效率。

在一些实施例中，所述正极探测部与所述负极探测部相对可移动，以用于与放置于所述芯体定位槽内的PTC芯体导通或断开。

在一些实施例中，所述正极测试组件相对固定地设在所述绝缘定位组件上，且所述负极测试组件相对所述正极测试组件可活动地设在所述绝缘定位组件上，用于使所述正极探测部相对所述负极探测部可移动。

在一些实施例中，所述绝缘定位组件包括：复位件，所述复位件与所述绝缘定位组件和所述负极测试组件相连，且所述复位件常推动所述负极测试组件使所述负极探测部远离所述正极探测部；负极按钮，所述负极按钮可活动地设在所述绝缘定位组件上，且用于推动所述负极测试组件使所述负极探测部朝向所述正极探测部移动；定位件，所述定位件可活动地设在所述绝缘定位组件上，并适于锁紧或释放所述负极测试组件。

在一些实施例中，所述绝缘定位组件上还设有正极测试针接触块和负极测试针接触块，所述正极测试针接触块与所述正极探测部电导通，所述负极测试针接触块与所述负极探测部电导通。

在一些实施例中，所述正极测试组件包括沿左右间隔布置的多个沿前后方向延伸的正极探测支杆，所述正极探测支杆上相对固定地设有一个或前后间隔布置的多个所述正极探测部；所述负极测试组件包括沿左右间隔布置的多个沿前后方向延伸的负极探针支杆，所述负极探针支杆上相对固定地设有一个或前后间隔布置的多个所述负极探测部，其中，多个所述正极探测支杆和多个所述负极探针支杆一一对应且左右交错布置。