[发明专利]基于傅里叶梅林及特征匹配的LCD缺陷检测系统及方法

权利要求书

1.一种基于傅里叶梅林及特征匹配的LCD缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、系统初始化，用CMOS相机采集标准的LCD显示屏图像存入标准图库；

步骤2、用CMOS相机采集待测的LCD显示屏图像；

步骤3、计算机对所述两幅图进行图像配准，具体采用基于傅里叶梅林及特征匹配的方法进行配准，先对标准图和待测图做傅里叶梅林变换，计算出两者之间的旋转角度θ₀，然后根据旋转角度θ₀初步校正待测图，接着利用基于特征SURF/SIFT的匹配方法，对标准图和校正后的待测图进一步配准，获得配准后的待测图；

步骤4、对步骤3配准后的待测图和标准图进行融合处理，具体采用加权平均融合方法进行融合，得到融合后的待测图；

步骤5、对步骤4融合后的待测图和标准图进行阈值分割，具体采用的是局部自适应阈值分割，然后利用差影法检测缺陷，并用最小外接矩形法统计缺陷的位置及类型。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤1每5min执行一次，更新标准图库。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤3中采用基于傅里叶梅林及特征匹配所用公式为：

g₂(x,y)＝g₁[(xcosθ₀+ysinθ₀)-Δx,(-xcosθ₀+ysinθ₀)-Δy]

G₂(ξ,η)＝e^{-2πj(ξΔx+ηΔy)}|G₁[(ξcosθ₀+ηsinθ₀),(-ξcosθ₀+ηsinθ₀)]|

s_p1(θ,ρ)＝r_p1[(θ-θ₀),λ]

式中，G₂(ξ,η)为g₂(x,y)的傅里叶变换，g₁(x,y)为标准图,g₂(x,y)待测图,θ₀为待测图和标准图之间的旋转角度，Δx和Δy分别为两者之间的水平和垂直偏移量，G₁和G₂分别为g₁(x,y)和g₂(x,y)的频谱，r_p1(θ,ρ)和s_p1(θ,ρ)分别为G₁和G₂在极坐标中的频谱，θ为极坐标下的角度参数，ρ为极径，λ＝lgρ。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤3中基于特征SURF/SIFT的匹配方法中最后一步几何变换采用透射变换。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤3中图像配准精度由相关系数衡量，所用公式为：

式中，A_ij为标准图某一像素点的灰度值，B_ij为待测图某一像素点的灰度值，为标准图灰度平均值，为待测图灰度平均值，C为标准图和待测图的相关系数。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤4中加权平均融合所用的公式为：

B'(M,N)＝c₁A(M,N)+c₂B(M,N)

式中，A为标准图，B为待测图，大小均为M×N，B’为融合后的图像，加权系数：

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤5中局部自适应阈值分割的滑动窗口大小为9×9。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，步骤4中加权系数:c₁＝0.38，c₂＝0.62。