[发明专利]一种眼底检查装置、其制造方法及使用其的成像方法

权利要求书

1.一种眼底检查装置，其特征在于，包括：

安装架；

物镜，其设置于安装架上且靠近待观察眼球设置，物镜为双凸形的凸透镜，物镜靠近待观察眼球的面为第一场凸折射面，物镜背离待观察眼球的面为第二场凸折射面，以放大待观察眼球；以及

场镜，其设置于安装架上且设置于物镜背离待观察眼球的一侧，场镜为凹凸形的凸透镜，场镜靠近物镜的面为物凹折射面，场镜背离物镜的面为物凸折射面，物凹折射面向物镜所在方向弯曲，以缩短焦距；

第一场凸折射面、第二场凸折射面、物凸折射面以及物凹折射面均为非球面结构；所述物镜的焦距范围为：850mm～1150mm；所述场镜的焦距范围为：8mm～15mm；所述物镜和场镜之间间距范围为：120mm～160mm；

物镜的最小厚度的取值范围为：9.78mm至16.33mm；第一场凸折射面的焦距的取值范围为：9.15mm至15.93mm；第二场凸折射面的焦距的取值范围为：118.207mm至185.174mm；物镜的折射率等于1.192，阿贝系数等于49.440791；

第一场凸折射面的公式为：

式中，X₁为第一场凸折射面的径向距离，Y₁为第一场凸折射面的垂直距离，系数a₁的取值范围为：-0.0001至-0.0007，系数b₁的取值范围为：1.4761014*10^-6至7.5000000*10^-6，系数e₁的取值范围为：-1.1264882*10^-9至-8.1000000*10^-9，系数d₁的取值范围为：-0.8755397*10^-10至-3.8755397*10^-10，C₁为基圆半径的倒数，取值范围为：至圆锥常数K₁的取值范围为：-0.812968～-2.812968；

第二场凸折射面的公式为：

式中，X₂为第二场凸折射面的径向距离，Y₂为第二场凸折射面的垂直距离，系数a₂的取值范围为：-0.83000000*10^-6至-3.2100000*10^-6，系数b₂的取值范围为：-0.9736000*10^-9至-2.7372000*10^-9，系数e₂的取值范围为：2.3313300*10^-11至5.7822133*10^-11，系数d₂的取值范围为：-1.3313300*10^-12至1.53217511*10^-12，C₂为基圆半径的倒数，取值范围为：至圆锥常数K₂的取值范围为：-0.4122346至-0.9802233；

场镜的最小厚度的取值范围为：1.84mm至4.78mm；物凹折射面的焦距的取值范围为：1.34mm至4.92mm；物凸折射面的焦距的取值范围为：19.63mm至45.62mm；场镜的折射率等于1.585，阿贝系数等于29.90000；

物凹折射面的公式为：

式中，X₃为物凹折射面的径向距离，Y₃为物凹折射面的垂直距离，系数a₃的取值范围为：0.8963241*10^-6至2.9356247*10^-6，系数b₃的取值范围为：-3.2597623*10^-8至-0.6321846*10^-8，系数e₃的取值范围为：2.1057946*10^-12至9.2356794*10^-12，系数d₃的取值范围为：-8.43157*10^-15至-2.64572*10^-15，C₃为基圆半径的倒数，取值范围为：至圆锥常数K₃的取值范围为：-172.5894至-114.5007；

物凸折射面的公式为：

式中，X₄为物凸折射面的径向距离，Y₄为物凸折射面的垂直距离，系数a₄的取值范围为：1.3784521*10^-6至6.2897613*10^-6，系数b₄的取值范围为：-5.0279451*10^-8至-0.8467912*10^-8，系数e₄的取值范围为：0.5379154*10^-11至3.5479125*10^-11，系数d₄的取值范围为：-9.4157201*10^-15至-4.0579561*10^-15，C₄为基圆半径的倒数，取值范围为：至圆锥常数K₄的取值范围为：-51.07431至-22.47211。