[发明专利]一种基于抛物线拟合的单脉冲鉴相方法有效
申请号: | 201611191857.1 | 申请日: | 2016-12-21 |
公开(公告)号: | CN108226850B | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | 李磊;曾德国;张君;鲍成浩;刘建;翟宏骏;朱明明 | 申请(专利权)人: | 中国航天科工集团八五一一研究所 |
主分类号: | G01S3/04 | 分类号: | G01S3/04 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 朱宝庆 |
地址: | 210007 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 抛物线 拟合 脉冲 方法 | ||
本发明提供一种基于抛物线拟合的单脉冲鉴相方法。测出干涉仪主天线对应中频的脉冲标记和所在通道,将待测干涉仪主天线中频与数字信道化输出的脉冲标记匹配延时对齐,并且分四相输入,利用两路128点串形复数FFT,完成512点FFT运算;根据中频所在通道号,求取FFT最大值的搜索范围,再搜索范围内求取FFT对应的最大值和左右次最大值以及它们对应的序号;对最大值和左右次最大值作拟合,求取偏移量Delta;对Delta附近两点做单点DFT,并求得第二次的拟合值Deltb;利用第二次的拟合结果Deltb对4个天线对应的中频进行512点的单点DFT运算;对四路单点DFT运算结果进行反正切运算,得到四路中频的相位,根据基线关系得到3个相位差,同时,根据Deltb、最大值序号和采样率求出频率值。
技术领域
本发明涉及一种电子侦察技术,特别是一种基于抛物线拟合的单脉冲鉴相方法。
背景技术
在现代电子战对抗中,电子侦察和定位无疑是最基础和最重要的,其采取的被动方式的无源定位方法以只接收未知目标辐射源的信号来确定敌方的真实位置,摆脱了敌方对你的侦察,显示了极好的隐蔽性,提高了侦察系统在真实的信息战环境中的生存概率。测角或测时差是对辐射源进行无源定位的传统方法,采用时差定位需要多站,成本相对较高,而且站与站之间大的数据量需要保持同步传输,实际工程实现难度比较大,所以干涉仪测向体制具有较大的工程实现优势。干涉仪测向系统及其各种改进方式已广泛应用于被动雷达测向领域,常见的多天线阵列的形状主要有线阵、圆阵、十字阵、L阵、T阵等,比较常用的是均匀与非均匀十字形阵和L形阵,二维多基线干涉仪可同时测量方向角与俯仰角。干涉仪测向的实质是利用相位干涉仪的测向基线测量接收到的未知目标电磁波相位差来确定实际来波信号的方向角,所以相位差测量精度在干涉仪测向中起到很大的作用。在实际工程设计当中,较高的相位测量精度是保证较小测向误差的前提条件,要想获得较高的角度测量精度,必须采用恰当的相位差提取技术。传统的相位差测量方法始终很难兼顾鉴相精度和实时性,而且对于脉冲密度高、多信号、电磁环境复杂的情况不具有较好的适应性。因此我们提出了一种利于工程实现、计算量小、高精度和环境适应性强的雷达信号鉴相方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于抛物线拟合的单脉冲鉴相方法,该方法是一种瞬时带宽大、频率分辨力和测频精度高、鉴相精度高的雷达鉴相的有效方法,该方法在多信号、复杂电磁环境情况下,能够以较高的精度实现鉴相和频率精测功能。
一种基于抛物线拟合的单脉冲鉴相方法,包括以下步骤:
步骤1,利用数字信道化测量主天线中频信号的脉冲标记和中频在信道化中的通道位置,利用数字信道化输出的通道号与FFT输出的序号的对应关系,计算出通道位置对应在512点FFT时的序号,然后将序号左右各扩展3-5个点后作为FFT最大值搜索范围;
步骤2,对FPGA输入主天线中频信号做匹配延时,与数字信道化输出脉冲标记对齐,并将该中频输入信号转换为四相,当该中频有效信号不足512点时,将不足部分置零后作为测频的中频输入;
步骤3,利用两组128点复数FFT运算,对输入的四相中频信号做FFT,将两路复数FFT运算结果合成512点FFT,并分两项将前256点有效结果输出;
步骤4,对并行两路的FFT结果串形求取其模,然后利用串形比较求取最大值和左右次最大值以及对应的序号,最后在两路中并行求取最大值和左右次最大值以及对应的序号;
步骤5,利用最大值和左右次最大值以及对应的序号对512点FFT结果进行第一次拟合,得出结果大于或等于-0.5且小于或等于0.5的FFT序号修正值Delta,然后对Delta附近的两点做单点DFT运算;
步骤6,利用DFT运算结果对512点FFT结果进行第二次拟合,得到第二次修正值Deltb,利用Deltb引导对干涉仪四个天线对应的中频进行512点的单点DFT运算;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国航天科工集团八五一一研究所,未经中国航天科工集团八五一一研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611191857.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基于GPU的子空间快速求解方法
- 下一篇:用于测向的方法和测向器