[发明专利]适用于运载火箭电子设备μA级微小电流测试方法

权利要求书

1.一种适用于运载火箭电子设备μA级微小电流测试方法，其特征在于，使用适用于运载火箭电子设备μA级微小电流测试系统实现，

所述适用于运载火箭电子设备μA级微小电流测试系统，包括电流积分转换电路、信号隔离放大电路、ADC采样电路、控制检测电路，其中：

电流积分转换电路，通过积分电路把电流信号转换为积分的电压信号；

信号隔离放大电路，通过U2把经过积分后的电压信号与后级采样和运算线路隔离开，同时又起等比例放大作用，其中U2为第二电压比较器；

ADC采样电路，把经过隔离放大电路的输出信号进行采样，采样后的数据送到FPGA芯片进行控制；

控制检测电路，对ADC芯片采集的信号进行处理和运算，并产生T0和T1，其中T0为第一时序信号，T1为第二时序信号；

所述电流积分转换电路的计算公式如下式所示；

适用于运载火箭电子设备μA级微小电流测试方法包括以下步骤：

步骤一，当第一时序信号到来之前，引脚P1为低电平，开关P1闭合，积分电容被短路，此时电压输出为0V，引脚P2为高电平，ADC芯片处于非采样状态；

步骤二，当t0≤t≤1ms时，引脚P1由低电平转换到高电平，开关P1打开，积分电路开始积分，同时Uout的电压值的计算公式如下式所示，Uout的电压值随时间的增加而线性增加；

步骤三，当t＝t1≤1ms时，由FPGA芯片的引脚P2产生一个低电平脉冲，ADC芯片进行采样，同时FPGA芯片接收ADC芯片采样的数据；

步骤四，判断Uout值是否大于3.5V；Uout值不大于3.5V，记录t1＝1ms 的次数，并进行积分，直到Uout值大于3.5V；Uout值大于3.5V时，存储电平值和t＝1ms的次数；

步骤五，根据如上式计算公式所示，计算出Iin的值；

其中：t0为第一时序信号到来时间；

t为所用时间；

Uout为电压的输出值；

C为电容的容值；

Iin为电流的输入值；

t1为引脚P2产生低电平脉冲时间；

R1、R2：均是U2反馈网络的电阻值。