[发明专利]一种自动进样器及其取样方法

权利要求书

1.一种自动进样器，包括有取样机构，其特征在于：该取样机构包括：X轴运动组件、Y轴运动组件及Z轴运动组件；

所述X轴运动组件包括有设置在基座上的X轴导轨，在X轴导轨上设置有基板座，在基板座上设置有X轴光耦，在基座上设置有X轴样品瓶定位片，X轴样品瓶定位片上设置有若干个定位凹槽，所述X轴光耦随基板座由X轴驱动机构带动沿X轴导轨往复移动，且基板座通过X轴光耦状态确定机械原点及移动至相应的样品瓶上方；

所述Y轴运动组件包括有设置在基板上的Y轴导轨，在Y轴导轨上设置有样品瓶安装板，在样品瓶安装板的一侧设置有与Y轴导轨平行的Y轴样品瓶定位片，Y轴样品瓶定位片上设置有若干个定位凹槽，在基板上设置有Y轴光耦，所述Y轴样品瓶定位片随样品瓶安装板由Y轴驱动机构驱动沿Y轴导轨往复移动，且样品瓶安装板通过Y轴光耦状态确定机械原点及将样品瓶移动至相应的位置；

所述Z轴运动组件包括有Z轴导轨，Z轴导轨设置在基板座上，在Z轴导轨上设置有进样针组件，进样针组件由Z轴驱动机构驱动沿Z轴导轨移动刺入样品瓶。

2.根据权利要求1所述的一种自动进样器，其特征在于：所述X轴驱动机构包括有X轴主动轮、X轴从动轮及连接X轴主动轮与X轴从动轮的同步带，X轴主动轮由X轴电机驱动转动；所述基板座固定在同步带上并随同步带一起移动。

3.根据权利要求1所述的一种自动进样器，其特征在于：所述Y轴驱动机构包括有Y轴主动轮、Y轴从动轮及连接Y轴主动轮与Y轴从动轮的同步带，Y轴主动轮由Y轴电机驱动转动；所述样品瓶安装板连接在同步带上并随同步带一起移动。

4.根据权利要求1所述的一种自动进样器，其特征在于：所述Z轴驱动机构包括有Z轴主动轮、Z轴从动轮及连接Z轴主动轮与Z轴从动轮的同步带，Z轴主动轮由Z轴电机驱动转动，所述Z轴从动轮设置在丝杆上，进样针组件设置在丝杆上并沿Z轴导轨往复移动。

5.根据权利要求1所述的一种自动进样器，其特征在于：所述X轴光耦、Y轴光耦上均设置有凹槽，所述X轴样品瓶定位片位于X轴光耦的凹槽中心，Y轴样品瓶定位片位于Y轴光耦的凹槽中心。

6.一种如权利要求1-5任一项所述的一种自动进样器的进样方法，其特征在于：包括如下步骤：

(1)X轴运动：由X轴驱动组件驱动基板座沿X轴导轨移动并根据X轴光耦的状态确定机械原点，然后控制基板座根据X轴光耦上的定位凹槽的位置判断并移动至样品瓶位置；

(2)Y轴运动：由Y轴驱动组件驱动样品瓶安装板沿Y轴导轨移动并根据Y轴光耦的状态确定机械原点，然后控制样品瓶安装板上的样品瓶移动至相应的位置；

(3)Z轴运动：由Z轴驱动组件驱动进样针组件沿着Z轴导轨向下移动并刺入样品瓶中，完成取样。

7.根据权利要求6所述的一种自动进样器的进样方法，其特征在于：所述基板座根据X轴光耦状态，如果X轴光耦未挡住，表面当前处于定位凹槽中，X轴驱动机构驱动基板座继续正向移动，直到X轴光耦被挡住；当X轴光耦状态显示挡住时，X轴驱动机构驱动基板座反方运动，直到X轴光耦不被挡住，显示当前处于定位凹槽状态，并计算当前定位凹槽的宽度，如果宽度小于设定值，则基板座继续往反向运动，直到找到大于设定值的定位凹槽位置，该位置为机械原点。

8.根据权利要求7所述的一种自动进样器的进样方法，其特征在于：基板座根据单片机设定的计时器n＝0,X轴驱动机构往正向运动，当检测到一个定位凹槽位置，则n＝n+1，检测到定位凹槽位置的数量即为该数量号次的样品瓶的位置，即所述定位凹槽的位置与样品瓶位置一一对应，定位凹槽的中心为样品瓶的中心。