[发明专利]一种GOA阵列基板及显示装置

说明书

【技术领域】

本发明涉及液晶面板技术领域，特别涉及一种GOA阵列基板及显示装置。

【背景技术】

在显示技术领域，平板显示装置，如液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)和有机电致发光显示器(Organic Light Emitting Display，OLED)因其具有轻、薄、低功耗、高亮度，以及高画质等优点，在平板显示技术领域占据重要的地位。显示装置至少包括设置有像素阵列的阵列基板，一般地，阵列基板的显示区域设置有扫描线、数据线，以及位于像素区域的像素电极等，还包括位于外围区域或电路板上的栅极驱动电路和源极驱动电路。

目前一般采用在阵列基板上制备栅极驱动(Gate Driver On Array，GOA)技术制备显示基板，GOA电路是指直接制备在阵列基板上的扫描线驱动电路。GOA电路包括多级依次连接的移位寄存器，每个移位寄存器驱动一条扫描线，并为下一级移位寄存器提供开启信号，从而GOA电路整体上可实现使扫描线逐行开启的目的。GOA技术相比传统工艺，不仅节省了成本，同时由于可以省去栅极方向上的绑定工艺，对提升产能极为有利，并提高了液晶显示面板的集成度。对于大尺寸面板，由于其RC loading(负载)较大，一般采用双边GOA电路驱动，即在阵列基板两侧均设有GOA电路，一起驱动面板上的各行扫描线。当GOA电路的某个位置存在短接、断开等故障时，会将导致故障位置之后的各级移位寄存器不能正常工作，进而导致显示异常。在阵列基板生产过程中，当阵列基板上的功能模块存在缺陷时，显示过程中会出现各种与阵列基板有关的不良。例如，扫描线或数据线断线引起的显示不良，栅极驱动电路或源极驱动电路缺陷引起的显示不良。因此，对制作完成的阵列基板的不良进行准确检测非常重要，不良检测和分析的可靠性非常重要。

由于大尺寸显示面板的RC(电阻和电容)负载较大，为了减小GOA级联电路的负载，一般会采用多个CK(CK数量为＝2N，N为正整数且N≥2)。比如8CK的GOA电路，就会将整个面板的负载分成4份，分担到4组GOA电路中。而CK总数为2a的GOA级联电路，前N级单元电路的上拉驱动模块均是连接至STV开启信号。

目前对盒检测工艺中对GOA产品进行检测时，栅极驱动时序信号(CK1、CK2、CK3、CK4、CK5、CK6、CK7、CK8、LC1、LC2、STV、VSS、ACOM)采用全接触(Full Contact)点灯方式从输入端区引入，由于液晶面板的分辨率越来越高，其输入端之间的间距有越来越小的趋势，从而导致放置面板检测衬垫(Cell test pad)的空间也越来越小，而使得各个信号衬垫间距过小，检测探针无法对位或者面板两侧无空间放置R/G/B信号衬垫，使得在检测的时候由于两侧R/G/B信号线负载过大而出现分屏的现象。在对盒检测工艺，目前检测探针对应的间距约30μm左右，采用全接触点灯时，检测探针有很大几率扎偏错位，造成瞬间电流过大，进而导致驱动电路被烧毁，造成备件严重浪费。

【发明内容】

本发明的目的在于提供一种GOA阵列基板及显示装置，以解决现有技术中，因放置面板检测衬垫的空间不足，而使得各个信号衬垫的间距过小，检测探针无法对位或者面板两侧无空间放置R/G/B信号衬垫，使得在检测的时候由于面板两侧R/G/B信号线负载过大而出现分屏的问题。

本发明的技术方案如下：

一种GOA阵列基板，包括：

衬底基板，其包括中部的显示区域与外围的非显示区域；

TFT阵列结构，设于所述显示区域，用于显示图像信号；

行扫描驱动电路，设于所述非显示区域，用于对所述TFT阵列结构的多条扫描线进行驱动；

阵列检测衬垫组，设于所述非显示区域，并与所述行扫描驱动电路相连接，用于对所述阵列基板进行检测；

其中，所述行扫描驱动电路包括多个级联的GOA电路单元，多个所述GOA电路单元与多条所述扫描线一一对应连接，所述阵列检测衬垫组包括多个水平方向依序排列的不同的阵列检测衬垫，每个所述阵列检测衬垫的一端连接外部检测信号输出端，另一端连接至其对应的信号引入端，所述阵列检测衬垫组对应各个所述GOA电路单元，所述阵列检测衬垫组包括：

一CK检测衬垫，其分别输出2N个相同的第一时钟信号至对应的2N个不同的CK信号引入端，每个所述CK信号引入端通过电线与其对应的一个所述GOA电路单元连接，且不同的所述CK信号引入端连接不同的所述GOA电路单元，其中N为正整数且N≥2；