[发明专利]一种测试多控制器存储设备的方法和装置

说明书

本发明提供了一种测试多控制器存储设备的方法和装置，技术方案为：在测试多控制器存储设备的过程中，将多控制器存储设备中运行正常的控制器中的部分控制器作为工作控制器，负责多控制器存储设备系统的平稳运行，其它运行正常的控制器则作为待测试控制器，进行重启测试，对重启失败的待测试控制器进行标记，重启成功的待测试控制器则进入下一轮测试。本发明能够以较低的成本提高测试效率。

技术领域

本发明涉及数据存储技术领域，特别涉及一种测试多控制器存储设备的方法和装置。

背景技术

对多控制器存储设备的测试来说，存储的异常测试最为关键，关系到存储设备系统运作中控制器之间的异常处理情况，以实现高可用性，不影响线上业务。

目前一般使用的测试方法是人工的拔插控制器、重启控制器、或引进第三方硬件模拟控制器信号中断。其中，人工插拔、重启控制器的测试方法比较接近实际使用情况，但测试效率非常低；而引进第三方硬件模拟控制器信号中断的测试方法的测试效率较高，但是会产生额外的高费用。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种测试多控制器存储设备的方法和装置，能够以较低的成本提高测试效率。

为了达到上述目的，本发明提供了如下技术方案：

一种测试多控制器存储设备的方法，包括：

步骤A、从多控制器存储设备的运行正常的控制器种选择工作控制器和待测试控制器，保持工作控制器正常运行并重启所有待测试控制器；

步骤B、，在重启所有待测试控制器的预设时长后，检测每个待测试控制器是否均成功启动，如果所有待测试控制器均成功启动，则返回执行步骤A，否则，执行步骤C；

步骤C、将未成功启动的待测试控制器标记为运行异常的控制器，如果正常运行的控制器个数不大于1，则结束测试流程，否则，返回步骤A执行。

一种测试多控制器存储设备的装置，包括：选择单元、启动单元、检测单元、标记单元；

所述选择单元，用于从多控制器存储设备中运行正常的控制器中选择工作控制器和待测试控制器；

所述启动单元，用于保持工作控制器正常运行并重启所有待测试控制器；

所述检测单元，用于启动单元重启所有待测试控制器的预设时长后，检测每个待测试控制器是否均成功启动，如果所有待测试控制器均成功启动，则指示选择单元重新进行选择工作控制器和待测试控制器，否则，通知标记单元对未成功启动的待测试控制器进行异常标记；

所述标记单元，用于接收到检测单元的通知后，将未成功启动的待测试控制器标记为运行异常的控制器，如果正常运行的控制器个数不大于1，则结束测试流程，否则，指示选择单元重新进行选择工作控制器和待测试控制器。

由上面的技术方案可知，本发明中，在每轮测试中，从多控制器存储设备中运行正常的控制器中选择工作控制器和待测试控制器，对待测试控制器进行重启测试，将重启成功的待测试控制器作为运行正常的控制器进入下一轮测试，直至多控制存储设备中仅剩1台运行正常的控制器。本发明可以对多控制器存储设备实现无人值守情况下的异常测试，达到模拟现场出现控制器重启故障处理，从而提高存储产品的稳定性和测试效率。

附图说明

图1是本发明实施例测试多控制器存储设备的方法流程图；

图2是本发明实施例测试多控制器存储设备的装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，下面结合附图并据实施例，对本发明的技术方案进行详细说明。