[发明专利]一种近红外光敏晶体管及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201611206641.8 申请日: 2016-12-23
公开(公告)号: CN106784057B 公开(公告)日: 2018-02-13
发明(设计)人: 李金华;王圣;王建颖;梅涛;王贤保 申请(专利权)人: 湖北大学
主分类号: H01L31/0232 分类号: H01L31/0232;H01L31/028;H01L31/113;H01L31/18;B82Y30/00
代理公司: 北京高沃律师事务所11569 代理人: 王加贵
地址: 430000 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 红外 光敏 晶体管 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种近红外光敏晶体管,包括依次设置的单晶硅基底、二氧化硅层、石墨烯层和相对设置的电极对,所述电极对间设置有硒化铅量子点层;所述硒化铅量子点层的厚度为5~30nm;硒化铅量子点的粒径为5~7nm;所述硒化铅量子点为以碘化铵为配体的硒化铅量子点;所述碘化铵与硒化铅量子点的质量比为40~50:50~60。

2.根据权利要求1所述的近红外光敏晶体管,其特征在于,所述石墨烯层的材质为单层石墨烯。

3.根据权利要求1或2所述的近红外光敏晶体管,其特征在于,所述石墨烯层的厚度为0.2~0.5nm。

4.根据权利要求1所述的近红外光敏晶体管,其特征在于,所述电极对的厚度独立为60~80nm。

5.根据权利要求1或4所述的近红外光敏晶体管,其特征在于,所述电极对的材质为金、银或铝。

6.根据权利要求1所述的近红外光敏晶体管,其特征在于,所述二氧化硅层的厚度为280~320nm。

7.根据权利要求1所述的近红外光敏晶体管,其特征在于,所述单晶硅基底的厚度为180~220μm。

8.权利要求1~7任意一项所述近红外光敏晶体管的制备方法,包括以下步骤:

(1)将单晶硅基底表面的二氧化硅层进行刻蚀,得到单晶硅-二氧化硅复合材料;

(2)将石墨烯平铺于所述步骤(1)得到的单晶硅-二氧化硅复合材料中二氧化硅层的表面,得到单晶硅-二氧化硅-石墨烯复合材料;

(3)在所述步骤(2)得到的单晶硅-二氧化硅-石墨烯复合材料中石墨烯层的表面蒸镀电极对,得到石墨烯晶体管;

(4)在所述步骤(3)得到的石墨烯晶体管的电极对间的石墨烯层表面涂覆硒化铅量子点,得到近红外光敏晶体管。

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