[发明专利]一种近红外光敏晶体管及其制备方法有效
申请号: | 201611206641.8 | 申请日: | 2016-12-23 |
公开(公告)号: | CN106784057B | 公开(公告)日: | 2018-02-13 |
发明(设计)人: | 李金华;王圣;王建颖;梅涛;王贤保 | 申请(专利权)人: | 湖北大学 |
主分类号: | H01L31/0232 | 分类号: | H01L31/0232;H01L31/028;H01L31/113;H01L31/18;B82Y30/00 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所11569 | 代理人: | 王加贵 |
地址: | 430000 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 红外 光敏 晶体管 及其 制备 方法 | ||
1.一种近红外光敏晶体管,包括依次设置的单晶硅基底、二氧化硅层、石墨烯层和相对设置的电极对,所述电极对间设置有硒化铅量子点层;所述硒化铅量子点层的厚度为5~30nm;硒化铅量子点的粒径为5~7nm;所述硒化铅量子点为以碘化铵为配体的硒化铅量子点;所述碘化铵与硒化铅量子点的质量比为40~50:50~60。
2.根据权利要求1所述的近红外光敏晶体管,其特征在于,所述石墨烯层的材质为单层石墨烯。
3.根据权利要求1或2所述的近红外光敏晶体管,其特征在于,所述石墨烯层的厚度为0.2~0.5nm。
4.根据权利要求1所述的近红外光敏晶体管,其特征在于,所述电极对的厚度独立为60~80nm。
5.根据权利要求1或4所述的近红外光敏晶体管,其特征在于,所述电极对的材质为金、银或铝。
6.根据权利要求1所述的近红外光敏晶体管,其特征在于,所述二氧化硅层的厚度为280~320nm。
7.根据权利要求1所述的近红外光敏晶体管,其特征在于,所述单晶硅基底的厚度为180~220μm。
8.权利要求1~7任意一项所述近红外光敏晶体管的制备方法,包括以下步骤:
(1)将单晶硅基底表面的二氧化硅层进行刻蚀,得到单晶硅-二氧化硅复合材料;
(2)将石墨烯平铺于所述步骤(1)得到的单晶硅-二氧化硅复合材料中二氧化硅层的表面,得到单晶硅-二氧化硅-石墨烯复合材料;
(3)在所述步骤(2)得到的单晶硅-二氧化硅-石墨烯复合材料中石墨烯层的表面蒸镀电极对,得到石墨烯晶体管;
(4)在所述步骤(3)得到的石墨烯晶体管的电极对间的石墨烯层表面涂覆硒化铅量子点,得到近红外光敏晶体管。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的