[发明专利]双模冗余的故障检测装置的故障检测方法

说明书

本发明涉及故障检测技术领域，提供了一种双模冗余的故障检测装置的故障检测方法。该故障检测方法包括：根据待测电路生成待验证电路；对所述待验证电路中的所有节点依次进行单固定型故障注入；将故障注入后的所述待验证电路与故障注入前的所述待验证电路进行等价性验证，并记录等价性验证结果；在所述待验证电路的所有节点均完成故障注入和等价验证后，根据所述等价验证结果得出所述待测电路的故障检测率。该故障检测方法能够有效利用胚胎电子细胞阵列中的空闲细胞，可实时检测故障，故障检测率高。

技术领域

本发明涉及故障检测技术领域，特别是涉及一种双模冗余的故障检测装置的故障检测方法。

背景技术

胚胎电子细胞阵列是一种新型的具有故障自检测和自修复能力的高可靠性硬件。在环境恶劣，人工维修难以开展以及对任务要求严苛，需要电子设备长时间连续可靠运行的领域，如深海、深空、强辐射、金融等领域，具有广阔的应用前景。

自胚胎电子细胞阵列的概念提出以来，阵列内故障的实时在线检测问题一直是一个亟待解决的关键性问题。国内外众多学者针对这个问题开展了大量的研究，总结目前已有的故障检测方法，主要的设计思路可分为四类：第一类设计思路是细胞内或细胞间特定模块的局部检测；第二类设计思路是采用外部检测资源对电子细胞阵列的输入输出进行实时检测；第三类设计思路是在阵列内设计在线BIST(Built-in Self-Test，BIST)结构；第四类设计思路与以上三种方法有很大不同，它充分利用电子细胞阵列内的空闲资源，在电路映射阶段，自动生成一种在线故障检测结构，实现阵列内故障的实时在线检测。

但是第四类设计思路目前仅针对组合电路进行了研究，没有研究时序电路的情况，所采用的奇偶校验码(Parity Code)与波格码(Berger Code)，故障覆盖率有待提高，而且逻辑综合的过程并不能保证电路的全自检(Totally Self-Checking，TSC)特性100％实现。

发明内容

本发明要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足，提供一种故障检测率高的双模冗余的故障检测的故障检测方法。

本发明实施例提供一种双模冗余的故障检测装置的故障检测方法，所述双模冗余的故障检测装置用于检测胚胎电子细胞阵列的故障，包括信号输入端、功能输出端和检测信号输出端，还包括功能电路、双模冗余电路和检测器；所述功能电路、双模冗余电路和检测器均包括所述胚胎电子细胞阵列中的多个胚胎电子细胞；

所述功能电路的输入端和所述双模冗余电路的输入端均与所述信号输入端相连；所述功能电路的输出端与所述功能输出端相连；

所述双模冗余电路的输出端与所述检测器的输入端相连；

所述检测器的输入端还与所述功能电路的输出端相连；所述检测器的输出端与所述检测信号输出端相连；

所述检测器用于检测所述功能电路的输出信号和所述双模冗余电路的输出信号是否相同：若不同，则所述检测器输出故障信息；否则，所述检测器输出正常信息；所述故障检测方法包括：

根据待测电路生成待验证电路；

对所述待验证电路中的所有节点依次进行单固定型故障注入；

将故障注入后的所述待验证电路与故障注入前的所述待验证电路进行等价性验证，并记录等价性验证结果；

在所述待验证电路的所有节点均完成故障注入和等价验证后，根据所述等价验证结果得出所述待测电路的故障检测率。

优选的，所述待测电路包括第一功能电路和第一错误检测电路，所述第一错误检测电路包括第一双模冗余电路和第一检测器；所述根据待测电路生成待验证电路具体为：