[发明专利]内存测试方法及装置

说明书

本发明提供了一种内存测试方法及装置，涉及计算机领域。其中，该方法包括：加载内存测试代码到缓存；执行所述内存测试代码对内存进行内存测试。该方法及装置使执行的用于内存测试的内存测试代码被加载于缓存中，测试速度更快，测试时间更短。

技术领域

本发明涉及计算机领域，具体而言，涉及一种内存测试方法及装置。

背景技术

内存(Memory)也被称为内存储器，是计算机中重要的部件之一，它是与CPU进行沟通的桥梁。计算机中所有程序的运行都是在内存中进行的，内存的性能对计算机的影响非常大，因此，对内存的性能进行测试就显得非常重要。

现有的对内存进行测试的方法中，通常是在内存或者只读存储器(ROM)中运行内存测试代码，实现对内存的性能测试。但是，若内存测试代码在ROM中运行，测试速度低，增加了测试时间。若在内存中运行内存测试代码，需要至少两次测试才能完成对内存的完全测试，则需要至少启动两次计算机，仍然使测试时间加长。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种内存测试方法及装置，通过在缓存中运行内存测试代码进行内存测试，提升了测试速度，从而有效缩短测试时间，以改善上述问题。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案如下：

一种内存测试方法，所述方法包括：加载内存测试代码到缓存；执行所述内存测试代码对内存进行内存测试。

优选的，上述方法中，所述加载内存测试代码到缓存之前，还包括：对所述内存测试代码进行编译，并且将所述内存测试代码编译到连续的存储地址中。

优选的，上述方法中，所述执行所述内存测试代码对内存进行内存测试之前，还包括：对内存进行初始化。

优选的，上述方法中，所述加载内存测试代码到缓存的步骤中，还包括：将所述内存测试代码锁定。

优选的，上述方法中，所述执行所述内存测试代码对内存进行内存测试之后，还包括：若所述内存的测试结果为正常，则将所述内存测试代码解锁。

优选的，上述方法中，所述加载内存测试代码到缓存之前，还包括：对串口进行初始化；所述执行所述内存测试代码对内存进行内存测试之后，还包括：通过所述串口打印输出所述内存测试的结果。

优选的，上述方法中，若所述内存测试的结果为存在异常，使系统进入死循环等待。

一种内存测试装置，包括：加载模块，用于加载内存测试代码到缓存；执行模块，用于执行所述内存测试代码对内存进行内存测试。

优选的，上述装置中，还包括：编译模块，用于对所述内存测试代码进行编译，并且将所述内存测试代码编译到连续的存储地址中。

优选的，上述装置中，还包括：锁定模块，用于将所述内存测试代码锁定；解锁模块，若所述内存的测试结果为正常，用于将所述内存测试代码解锁。

本发明实施例提供的内存测试方法及装置，将内存测试代码加载到缓存(cache)中后再执行该内存测试代码进行内存测试。由于缓存是进行高速数据交换的存储器，处理器读取数据时，首先从缓存中查找需要的数据，运行速率很快，于是，在执行内存测试代码对内存进行测试的过程中，速度快，测试时间短。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。