[发明专利]一种死锁检测方法、装置和电路

说明书

【技术领域】

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种死锁检测方法、装置和电路。

【背景技术】

现有技术中，I2C(Inter－Integrated Circuit)总线是一种两线式串行总线通讯标准，I2C总线由一条数据线SDA和一条时钟线SCL构成。当主机器与从机器通过I2C总线中的SDA进行数据交互时，在一些异常情况下，SCL经常会出现时序错误，进而，会导致主机器与从机器互相等待对方发送通信结束信号的情况，造成了主机器与从机器之间的通讯被阻塞卡死，也就是，主机器与从机器之间容易发生死锁现象。系统管理总线(System Management Bus，SMBus)与I2C总线类似，主机器与从机器进行数据交互时，也容易发生死锁现象。

现有技术中，针对主机器与从机器之间容易发生死锁现象这一问题，通常采用添加从机器看门狗、添加从机器复位模块、添加从机器死锁检测模块等方式，由这些添加的独立模块进行死锁现象的检测和复位。

在实现本发明过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：

现有技术中的死锁检测方法，需要在从机器端添加额外的从机器模块才能实现对死锁现象的检测，若不为从机器添加额外的从机器模块，就无法检测到主机器与从机器之间的死锁现象，应用场景比较少，适用性较低。

【发明内容】

有鉴于此，本发明实施例提供了一种死锁检测方法、装置和电路，用以解决现有技术中的死锁检测方法应用场景比较少以及适用性较低的问题。

一方面，本发明实施例提供了一种死锁检测方法，执行于主机器上，所述主机器与从机器之间通过时钟线SCL和数据线SDA连接；所述方法包括：

当所述主机器与所述从机器通过所述SDA进行数据交互时，检测所述SCL的电平状态；

根据所述SCL的电平状态，检测所述主机器与所述从机器之间是否发生死锁现象。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，根据所述SCL的电平状态，检测所述主机器与所述从机器之间是否发生死锁现象，包括：

根据所述SCL的电平状态的变化，进行计数，得到计数结果；

判断所述计数结果是否大于预设的数目阈值；

当所述计数结果大于所述数目阈值时，检测到所述主机器与所述从机器之间发生死锁现象。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，根据所述SCL的电平状态的变化，进行计数，包括：

当检测到所述SCL的当前电平状态与所述SCL的上一个电平状态一致时，计数值加1；或者，

当检测所述SCL的当前电平状态与所述SCL的上一个电平状态不一致时，计数值清零。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述方法还包括：

当检测到所述主机器与所述从机器之间发生死锁现象时，发送复位信号给所述从机器，以触发所述从机器执行复位操作。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述方法还包括：

当检测到所述主机器与所述从机器之间发生死锁现象时，执行复位操作。

另一方面，本发明实施例提供了一种死锁检测装置，位于主机器上，所述主机器与从机器之间通过时钟线SCL和数据线SDA连接；所述装置包括：

电平检测单元，用于当所述主机器与所述从机器通过所述SDA进行数据交互时，检测所述SCL的电平状态；

死锁检测单元，用于根据所述SCL的电平状态，检测所述主机器与所述从机器之间是否发生死锁现象。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述死锁检测单元，包括：

计数子单元，用于根据所述SCL的电平状态的变化，进行计数，得到计数结果；

判断子单元，用于判断所述计数结果是否大于预设的数目阈值；

检测子单元，用于当所述计数结果大于所述数目阈值时，检测到所述主机器与所述从机器之间发生死锁现象。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述计数子单元，具体用于：

当检测到所述SCL的当前电平状态与所述SCL的上一个电平状态一致时，计数值加一；或者，

当检测到所述SCL的当前电平状态与所述SCL的上一个电平状态不一致时，计数值清零。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述装置还包括：