[发明专利]一种NAND闪存芯片的测试样本有效
| 申请号： | 201611224670.7 | 申请日： | 2016-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN108242252B | 公开（公告）日： | 2023-10-10 |
| 发明（设计）人： | 台生斌 | 申请（专利权）人： | 兆易创新科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆;胡彬 |
| 地址： | 100094 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 nand 闪存 芯片 测试 样本 | ||
【权利要求书】：
1.一种NAND闪存芯片的测试样本，其特征在于，
所述测试样本包括多个相同的样本区域，每个样本区域包括多个相邻的数据块，所述多个相邻的数据块用于进行不同擦写次数的测试；
所述多个相同的样本区域中，任意两个相邻的样本区域之间间隔预设数量的相邻数据块。
2.根据权利要求1所述的测试样本，其特征在于，所述多个相同的样本区域的全部数据块，与所述任意两个相邻的样本区域之间间隔的全部数据块之和，与所述测试样本的全部数据块数量相同。
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