[发明专利]一种薄膜热收缩率的测量方法及测量装置

权利要求书

1.一种薄膜热收缩率的测量方法，其特征在于，步骤如下：

1)加热前，测量薄膜样品的长度为薄膜初始长度L₁；

2)将该薄膜样品置于加热设备中加热；

3)将该薄膜样品从加热设备中取出、冷却，拉伸该薄膜样品使其处于张紧状态，记录此时该薄膜样品的长度为薄膜变形后长度L₂，根据所述薄膜初始长度L₁、薄膜变形后长度L₂、结合收缩率的计算公式计算出薄膜的热收缩率。

2.根据权利要求1所述的薄膜热收缩率的测量方法，其特征在于，所述步骤1)中，所述薄膜初始长度L₁是使薄膜处于拉伸状态下测量的，此时薄膜所受张力大小为N。

3.根据权利要求2所述的薄膜热收缩率的测量方法，其特征在于，所述步骤3)中，拉伸该薄膜样品，使其所受张力大小为所述N。

4.根据权利要求1、2或3所述的薄膜热收缩率的测量方法，其特征在于，所述步骤2)中，薄膜样品在加热设备中加热时，使该薄膜样品处于松弛状态。

5.一种薄膜热收缩率的测量装置，其特征在于，包括第一夹持体、第二夹持体和驱动机构，所述驱动机构是用于驱动至少一个所述夹持体，使第一夹持体、第二夹持体相背运动时以拉伸两夹持体之间薄膜的驱动机构。

6.根据权利要求5所述的薄膜热收缩率的测量装置，其特征在于，所述驱动机构与对应连接的夹持体之间连接有用于测量薄膜张力的测量装置。