[发明专利]膜片的检测系统、检测方法和装置在审
申请号: | 201611226985.5 | 申请日: | 2016-12-27 |
公开(公告)号: | CN108240995A | 公开(公告)日: | 2018-07-03 |
发明(设计)人: | 李守军;刘新柱 | 申请(专利权)人: | 张家港康得新光电材料有限公司 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 韩建伟;张永明 |
地址: | 215634 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 检测膜 检测 图像采集装置 方法和装置 检测系统 膜片 预设 载台 图像 数据处理装置 采集参数 尺寸树脂 光学膜片 判定标准 准确度 显微镜 采集 承载 | ||
本发明公开了一种膜片的检测系统、检测方法和装置。其中,该系统包括:载台,用于承载待检测膜片;图像采集装置,用于根据预设的采集参数采集待检测膜片的图像;数据处理装置,分别与载台和图像采集装置相连,用于基于待检测膜片的图像,采用预设的判定标准对待检测膜片进行检测。本发明解决了现有技术中的小尺寸树脂光学膜片依靠人工使用显微镜进行检测,导致检测准确度和检测效率低下的技术问题。
技术领域
本发明涉及检测领域,具体而言,涉及一种膜片的检测系统、检测方法和装置。
背景技术
目前,小尺寸(8mm*8mm及以下)的树脂光学膜片检测依靠人眼显微镜检测,检测精度低,耗时又费人力,且生产效率低下。
针对现有技术中的小尺寸树脂光学膜片依靠人工使用显微镜进行检测,导致检测准确度和检测效率低下的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本发明实施例提供了一种膜片的检测系统、检测方法和装置,以至少解决现有技术中的小尺寸树脂光学膜片依靠人工使用显微镜进行检测,导致检测准确度和检测效率低下的技术问题。
根据本发明实施例的一个方面,提供了一种膜片的检测系统,包括:载台,用于承载待检测膜片;图像采集装置,用于根据预设的采集参数采集待检测膜片的图像;数据处理装置,分别与载台和图像采集装置相连,用于基于待检测膜片的图像,采用预设的判定标准对待检测膜片进行检测。
根据本发明实施例的一个方面,提供了一种膜片的检测方法,膜片的检测系统包括:载台、图像采集装置和数据处理装置,膜片的检测方法包括:控制图像采集装置据预设的采集参数采集待检测膜片的图像;获取图像采集装置采集的待检测膜片的图像;根据待检测膜片的图像,通过数据处理装置,采用预设的判定标准对待检测膜片进行检测。
根据本发明实施例的另一方面,还提供了一种膜片的检测装置,膜片的检测系统包括:载台、图像采集装置和数据处理装置,膜片的检测装置包括:第一控制模块,用于控制图像采集装置据预设的采集参数采集待检测膜片的图像;获取模块,用于获取图像采集装置采集的待检测膜片的图像;检测模块,用于根据待检测膜片的图像,通过数据处理装置,采用预设的判定标准对待检测膜片进行检测。
在本发明实施例中,通过载台承载待检测膜片,通过图像采集装置根据预设的采集参数采集待检测膜片的图像,通过数据处理装置基于待检测膜片的图像,采用预设的判定标准对待检测膜片进行检测,得到最终的检测结果,上述通过存储预设判定标准的数据处理装置根据待检测膜片的图像进行检测,相对于人工肉眼检测,提高了检测的标准程度,也提高了检测效率,从而解决了现有技术中的小尺寸树脂光学膜片依靠人工使用显微镜进行检测,导致检测准确度和检测效率低下的技术问题。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本申请的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1是根据本申请实施例的一种膜片的检测系统的结构示意图;
图2是根据本申请实施例是一种可选的膜片的检测系统的结构示意图;
图3是根据本申请实施例的一种可选的载台的示意图;
图4是根据本申请实施例的一种可选的图像采集装置的示意图;
图5是根据本申请实施例的一种可选的工业计算机;
图6是根据本申请实施例的一种膜片的检测系统的检测方法的流程图;以及
图7是根据本申请实施例的一种膜片的检测系统的检测装置的示意图。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于张家港康得新光电材料有限公司,未经张家港康得新光电材料有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611226985.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:应用物联网传感器监测汽车底盘是否划伤的装置
- 下一篇:芯片失效分析方法和装置