[发明专利]一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及天馈线的技术领域，更具体地，涉及一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法。

背景技术

利用天馈线测试仪,测试天馈线系统时，外部噪声信号容易通过天线、馈线或其它方式耦合到被测系统里。因此作为天馈线测试仪，要求对它测试的频点之外的噪声必须有一定的滤除能力，否则会严重影响测试效果。目前市面上的天馈线测试仪，通过多种方法实现抑制噪声干扰，都离不开软件的数字处理。

目前市面上天馈线测试仪，具有较好干扰能力的产品，基本上是通过加强信号源的功率掩盖干扰噪声功率；通过对参考RF信号、测试RF信号经过混频，低通，ADC采样，软件计算相位差和功率比等两个方式实现天馈线测试仪的抗干扰。

现有技术的缺点在于：基本型的天馈线测试方案，要求硬件的功率比较、相位差比较器要具有很宽的频率响应，功率比较和相位比较的硬件设计要求高。基本型的天馈线测试方案，对通过被测天馈线系统耦合进来的噪声信号，没任何抑制能力，不具有现场应用的实用价值。参考中频信号和测试中频信号，经过低通滤波器，在进入ADC采样。由于低通滤波的频率带宽较大（通常在200KHz），对带外的干扰抑制能力有限，必须借助滤波算法实现窄带滤波，加大了软件的算法设计难度，增加数字处理器性能要求。市面上现有天馈线产品的方案，虽然对外部噪声具有比较好的噪声抑制效果，但是ADC采样后的软件算法设计很复杂，对算法设计要求很高，软件开发难度比较高。现有的方案，如果遇到比较强的干扰信号，抑制效果会下降。现有的方案，如果要做窄带的测量，对数字处理器要求比较高，间接提高了天馈线的产品的成本。

发明内容

本发明为克服上述现有技术所述的至少一种缺陷，提供一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法，提高现场应用抗干扰能力，降低前端软件的设计复杂程度，一定程度上降低天馈线测试仪的成本。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法，其中，包括以下步骤：

S1. 测试RF信号源经过功分器，分为参考RF信号、测试RF信号；

S2. 本振LO信号源经过功分器，分为参考LO信号、测试LO信号；

S3. 参考RF信号经过衰减器，进行功率调节，通过第一混频器与参考的LO信号混频，再经过第一滤波器，得到参考中频信号IF0；

S4. 测试RF信号，经过定向耦合器，接入天馈线测试系统，并耦合出被测系统的反射信号功率，反射信号再通过第二混频器与测试LO信号混频，经过第二滤波器，得到测试中频信号IF1；

S5. 参考中频信号IF0和测试中频信号IF1，通过硬件的功率比较器、相位比较器，得到IF0和IF1的功率比及相位差的直流信号Vmag和Vphase；

S6. 功率比和相位差直流信号Vmag和Vphase经过低速的ADC采样储存，简单的算法处理，即可得到被测天馈线系统的驻波比、插入损耗及故障点信息。

进一步的，所述的步骤S1、S2中，RF信号和LO信号的频率差为455KHz。

参考信号中频信号IF0和测试中频信号，是经过陶瓷滤波器之后得到的6KHz窄带中频信号，测试过程中对带外的噪声干扰抑制非常明显。

进一步的，所述的步骤S3、S4中，第一滤波器、第二滤波器均为窄带通用陶瓷滤波器。所述的步骤S3中，参考中频信号IF0带宽为6KHz，频率为455KHz。所述的步骤S4中，测试中频信号IF1带宽为6KHz，频率为455KHz。

而且第一滤波器、第二滤波器均为窄带（-6dB@6KHz）的通用陶瓷滤波器。

本发明中，测试中频信号选择455KHz，该频点的中频信号广泛应用在收音机、对讲机、无绳电话上面，455KHz陶瓷滤波器的应用广泛，容易选型，器件成本低廉。455KHz的中频频点，对硬件的功率比较器、相位比较器的频率响应要求不高，选型设计带来了极大的方便。

经过硬件的功率比较、相位差比较，等到直流信号，对ADC的采样速率要求降低。经过了陶瓷滤波器的窄带滤波，硬件功率比较，硬件相位差比较，大大降低了软件算法设计难度。对数字处理方面依赖程度降低。经过改进的天馈线测试仪，成本得到了一定的降低，而且现场应用抗干扰抑制效果明显。

与现有技术相比，有益效果是：本发明参考信号及测量信号，经过混频器、陶瓷滤波器及硬件相位比较、功率比较，简单有效地实现并大大提高天馈线测试仪抗干扰性，降低软件的处理难度。将455KHz通用陶瓷滤波器，应用到天馈线测试仪，简单有效地提高天馈线测试仪的抗干扰能力。

附图说明