[发明专利]照明成像优化装置

说明书

本发明提供一种照明成像优化装置，包括第一光源、第二光源、第三光源、第一柔光组件、第二柔光组件以及第一偏振光滤除组件与第二偏振光滤除组件，第一光源、第二光源以及第三光源分别向成像对象发射光线，构成立体组合光源，第一柔光组件、第二柔光组件对第一光源与第二光源发出的光线进行柔光处理，第一偏振光滤除组件与第二偏振光滤除组件对光线进行偏振光滤除处理，通过光线柔和设计，有效减少了检测图像中的噪点，采用偏振光滤除技术使无缺陷位置的光强度减弱，减小了反光带宽度，增强了图像对比度，从硬件上提高成像对象中表面缺陷的成像质量，为稳定可靠的表面缺陷的视觉检测提供依据。

技术领域

本发明涉及成像处理技术领域，特别是涉及照明成像优化装置。

背景技术

传统针对产品表面缺陷检测，需要技术工人对产品目视检测。以磁瓦表面缺陷检测为例，传统采用的人工目测方法主要是基于人的眼睛，由于一些生理上的限制在一些细微的裂纹上很难检测出来，同时这种方法极易受到外部环境和身体状况的影响，通常会漏检，检测效率相对很低。

对此，有技术人员研究出了利用机器视觉技术，对磁瓦表面缺陷特征进行图像采集，利用图像处理软件处理图片信息，其采集的磁瓦表面图像如图1以及图2所示。由图1以及图2可以清楚发现此技术采用的成像技术成像不均匀且不柔和，缺陷与背景没有很明显的分离，干扰很多，这样会导致误检率高。

可见，一般机器视觉技术中无法准确对产品(成像对象)表面缺陷准确成像，导致机器识别技术对产品表面缺陷检测不准确。

发明内容

基于此，有必要针对一般机器视觉技术中无法准确对产品(成像对象)表面缺陷准确成像，导致机器识别技术对产品表面缺陷检测不准确问题，提供一种照明成像优化装置提高对成像对象中表面缺陷的成像质量，保证机器识别技术能够对产品表面缺陷准确检测。

一种照明成像优化装置，包括第一光源、第二光源、第三光源、对第一光源发出光线进行柔光处理的第一柔光组件、对第二光源发出光线进行柔光处理的第二柔光组件、对第三光源发出光线进行偏振光滤除处理的第一偏振光滤除组件以及对射入外部成像设备光线进行偏振光滤除处理的第二偏振光滤除组件；

第一光源与第二光源相对且间隔设置于成像对象的两侧，第三光源朝向成像对象设置，且第三光源在成像对象所处平面的投影位于第一光源与第二光源之间，第一柔光组件设置于第一光源，第二柔光组件设置于第二光源，第一偏振光滤除组件设置于第三光源，第二偏振光滤除组件设置于外部成像设备。

本发明照明成像优化装置，包括第一光源、第二光源、第三光源、第一柔光组件、第二柔光组件以及第一偏振光滤除组件与第二偏振光滤除组件，第一光源与第二光源分别设置于成像对象的两侧，第三光源朝向成像对象，第一柔光组件与第二柔光组件分别设置于第一光源与第二光源，第一偏振光滤除组件和第二偏振光滤除组件分别设置于第三光源以及外部成像设备(例如相机)，第一光源、第二光源以及第三光源分别向成像对象发射光线，构成立体组合光源，第一柔光组件、第二柔光组件对第一光源与第二光源发出的光线进行柔光处理，第一偏振光滤除组件与第二偏振光滤除组件对光线进行偏振光滤除处理，通过光线柔和设计，有效减少了检测图像中的噪点，采用偏振光滤除技术使无缺陷位置的光强度减弱，减小了反光带宽度，增强了图像对比度，从硬件上提高成像对象中表面缺陷的成像质量，为稳定可靠的表面缺陷的视觉检测提供依据。

附图说明

图1与图2为传统机器视觉技术中不同亮度下采集的磁瓦表面图像示意图；

图3位本发明照明成像优化装置中组合光源的结构示意图；

图4为试验中本发明照明成像优化装置中组合光源打光条件下采集的磁瓦表面图像示意图；

图5与图6为试验中本发明照明成像优化装置中立体组合光源不同亮度打光且柔光处理条件下采集的磁瓦表面图像示意图；