[发明专利]一种铜铟镓硒薄膜太阳电池缓冲层的制备方法在审
申请号: | 201611233778.2 | 申请日: | 2016-12-28 |
公开(公告)号: | CN106784076A | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 张瀚铭;乔在祥;赵岳;徐睿 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十八研究所 |
主分类号: | H01L31/04 | 分类号: | H01L31/04;H01L31/0352 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司11315 | 代理人: | 刘昕 |
地址: | 300384 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 铜铟镓硒 薄膜 太阳电池 缓冲 制备 方法 | ||
1.一种铜铟镓硒薄膜太阳电池缓冲层的制备方法,其特征在于:以二乙基锌、H2S、H2O分别作为Zn、S、O的前躯体源,采用原子层沉积方法在加热的衬底上交替沉积ZnO薄膜和ZnS薄膜多次,制备得到Zn(O,S)缓冲层。
2.根据权利要求1所述的铜铟镓硒薄膜太阳电池缓冲层的制备方法,其特征在于:所述沉积ZnO薄膜是指向原子层沉积设备的反应腔室导入二乙基锌后,用高纯氮气吹扫反应腔室,再导入水蒸气,沉积得到单层ZnO,再用高纯氮气吹扫反应腔室。
3.根据权利要求2所述的铜铟镓硒薄膜太阳电池缓冲层的制备方法,其特征在于:所述二乙基锌、高纯氮气和水蒸气、高纯氮气在反应腔室内的暴露时间依次为0.1~1s、3~10s和0.1~1s、3~10s。
4.根据权利要求1所述的铜铟镓硒薄膜太阳电池缓冲层的制备方法,其特征在于:所述沉积ZnS薄膜是指向原子层沉积设备的反应腔室导入二乙基锌后,用高纯氮气吹扫反应腔室,再导入H2S,沉积得到单层ZnS,再用高纯氮气吹扫反应腔室。
5.根据权利要求4所述的铜铟镓硒薄膜太阳电池缓冲层的制备方法,其特征在于:所述二乙基锌、高纯氮气和H2S、高纯氮气在反应腔室内的暴露时间依次为0.1~1s、3~10s和0.1~1s、3~10s。
6.根据权利要求1至5任一项所述的铜铟镓硒薄膜太阳电池缓冲层的制备方法,其特征在于:所述交替沉积ZnO薄膜和ZnS薄膜多次是指交替沉积ZnO薄膜和ZnS薄膜各100~500次。
7.根据权利要求1至5任一项所述的铜铟镓硒薄膜太阳电池缓冲层的制备方法,其特征在于:所述反应腔室内的压强为0.3~0.6Pa。
8.根据权利要求1至5任一项所述的铜铟镓硒薄膜太阳电池缓冲层的制备方法,其特征在于:所述衬底的加热温度为100~150℃。
9.根据权利要求1至5任一项所述的铜铟镓硒薄膜太阳电池缓冲层的制备方法,其特征在于:所述二乙基锌、高纯氮气、H2S和水蒸气的气体流量为100~300sccm。
10.一种铜铟镓硒薄膜太阳电池缓冲层,其特征在于:根据权利要求1至9中任一项所述方法制备得到。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的