[发明专利]一种激光粒度仪及粒度分布测试方法

权利要求书

1.一种激光粒度仪，其特征在于，包括：

用于发射激光光束的激光光源；

用于盛放待测样品的样品池；

用于接收所述激光光束穿过所述待测样品后产生的散射光，并将其转换为散射光能量分布图，表面设置有圆环掩膜板的电荷耦合光电探测器；

用于根据所述散射光能量分布图计算所述待测样品的粒度分布的计算器；

所述圆环掩膜板包括多个同心圆环，最小半径圆环的中心与所述电荷耦合光电探测器的光学中心重合。

2.如权利要求1所述的激光粒度仪，其特征在于，还包括设置于所述激光光源与所述样品池之间的准直扩束装置。

3.如权利要求2所述的激光粒度仪，其特征在于，所述准直扩束装置为开普勒式激光扩束装置，包括会聚透镜和准直透镜。

4.如权利要求3所述的激光粒度仪，其特征在于，还包括位于所述会聚透镜的焦点处的空间滤波器。

5.如权利要求4所述的激光粒度仪，其特征在于，还包括设置于所述样品池与所述光电探测器之间的成像透镜，所述成像透镜的焦点与所述光电探测器的中心重合。

6.一种粒度分布测试方法，其特征在于，包括：

步骤S1：将圆环掩膜板设置于激光粒度仪的电荷耦合光电探测器上，调整最小半径圆环的中心与所述电荷耦合光电探测器的光学中心重合；其中，所述圆环掩膜板包括多个同心圆环；

步骤S2：激光光源发射的激光光束通过放有待测样品的样品池，形成散射光；

步骤S3：所述电荷耦合光电探测器接收所述散射光，根据所述圆环掩膜板获取接收所述散射光的像素点的坐标；

步骤S4：根据所述像素点的坐标绘出所述散射光能量分布图，并计算所述待测样品的粒度分布。

7.如权利要求6所述的粒度分布测试方法，其特征在于，所述步骤S2之前，还包括：

步骤S11：调整所述圆环掩膜板中最小半径圆环的中心与所述电荷耦合光电探测器的光学中心重合；

步骤S12：所述激光光束通过没有所述放置待测样品的所述样品池，入射至所述电荷耦合光电探测器上；

步骤S13：判断所述激光光束在所述电荷耦合光电探测器上的光斑是否落在所述最小半径圆环的中心，若否，则调整所述激光光束在所述电荷耦合光电探测器上的对中，若是，则执行所述步骤S2。