[发明专利]一种TVLine解析测试图卡及其解析测试方法在审

专利信息
申请号: 201611239416.4 申请日: 2016-12-28
公开(公告)号: CN106842804A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 张奇 申请(专利权)人: 歌尔科技有限公司
主分类号: G03B43/00 分类号: G03B43/00;H04N17/00
代理公司: 北京市隆安律师事务所11323 代理人: 权鲜枝,吴昊
地址: 266104 山东省青岛*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 tvline 解析 测试 及其 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及镜头解析力测试技术领域,具体涉及一种TV Line(电视线)解析测试图卡及其解析测试方法。

背景技术

随着照相机、摄像机、无人机等产品技术的发展,镜头作为这些产品的重要组成部分,使得镜头对细节的分辨能力成为非常重要的指标,该指标能够直接反馈出镜头质量的优劣,而解析测试则是衡量镜头对细节分辨能力这一重要指标的方式。

现有的TV line解析测试图卡多使用标准ISO12233图卡(Chart),如图1所示,其解析测试方法一般是从垂直和水平两个方向进行测试,测试位置分为中心和周边,如图中①-⑤所示区域处;其解析力评测多借助第三方工具,如ImaTest、HYRes、iSeetest等软件;其多存在以下问题:

(1)使用ISO标准chart存在局限性:在一些情况下,如果客户需要或者镜头特性(衰减、镜头视角FOV)等需要对非固定区域的测试解析,如图1中所示A、B、C、D、E等区域时,标准chart就无法满足要求;

(2)测试软件使用第三方工具存在局限性:不仅费用昂贵,增加成本,而且测试大多需要人工进行设置操作,费时费力,效率低下,无法实现批量性生产测试。

发明内容

本发明提供了一种TV Line解析测试图卡及其解析测试方法,以解决现有的TV Line解析测试图卡所存在的无法适用于对非固定区域进行测试解析,使用局限性较大的问题,以及解决现有的TV Line解析测试方法所存在的使用第三方工具费用昂贵,增加成本,需要人工进行设置操作,费时费力,效率低下,无法实现批量性生产测试,受局限性影响等问题。

根据本发明的一个方面,提供了一种TV Line解析测试图卡,图卡上设置有解析测试图形,解析测试图形包括解析线条对,解析线条对包括相交的横向条纹对和纵向条纹对;

横向条纹对和纵向条纹对分别包括中心条纹和均匀对称地设置于中心条纹两侧的侧条纹,侧条纹以中心条纹为中心线分别向两侧扩散;

中心条纹为直线,侧条纹为凸向中心条纹弯曲的圆弧形曲线;

解析测试图形根据解析测试需要设置在指定测试区域。

根据本发明的另一个方面,提供了一种TV Line解析测试方法,采用如本发明一个方面所述的图卡,包括以下步骤:

将图卡设置在需要测试的指定测试区域;

启动测试软件,先从配置文件中读取配置信息,然后获取所有解析判读位置坐标及测试阈值,从横向条纹对和纵向条纹的不相交的端部开始搜寻解析起始位置,以定位解析起点;

获取被测试产品对图卡拍摄所得图卡图像的实时影像数据,然后从配置文件中读取解析判读坐标,再标示出解析判读位置,将测试软件在该标示出的位置区域内进行解析起点判读;

测试软件通过算法和解析判读位置分离的模式,根据图卡图像上的成像解析线条对的黑白对比度关系,获取成像解析线条对的起点和终点,计算成像解析线条对的长度,并计算单位像素下对应的解析值精度,以用于最终的解析计算;

解析开始,从成像解析线条对的起点进行扫描,根据成像解析线条对的黑白对比度关系,计算成像解析线条对的数量,随着成像解析线条对的空间频率的增加,成像解析线条对的黑白对比度衰减,直到对比度衰减至阈值,则认为无法分辨成像解析线条对,从而得出解析最大位置数据;

根据解析起始位置数据和解析最大值位置数据,计算解析值。

本发明的有益效果是:本发明的一个方面的这种TV Line解析测试图卡,首先,其通过设置具有横向条纹对和纵向条纹对的解析测试图形,使其成为能够用于解析测试的部分;其次,其通过将横向条纹对和纵向条纹对分别设置为包括中心条纹和均匀对称地设置于中心条纹两侧的侧条纹,侧条纹以中心条纹为中心线分别向两侧扩散,使得能够依据镜头规格选取合适精度的解析线条对,从而更好的满足具体测试方案的需要;另外,其通过解析测试图形根据解析测试需要设置在指定测试区域,使其能够根据解析测试需要进行制作并设置在指定测试区域,如中心视场、0.5视场、0.8视场等任意位置,以实现可对所有视场进行测试的目的,使得其适用范围不再受限,使用更加灵活方便。

本发明的另一个方面的这种TV Line解析测试方法,首先,其通过将本发明一个方面提供的解析测试图卡设置在需要测试的指定测试区域,其图卡的使用灵活性高,能够实现同时对多个视场位置进行解析测试,满足无死角覆盖任意视场的解析测试需求,有效提高测试效率;

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